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簡介：高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動態(tài)光散射（DLS）和激光多普勒電泳（LDE）技術，提供高分辨率，和快速的粒度和zeta電位測試和遠程原位測試。

簡介：在線顆粒粒徑分布及形狀分析儀擁有著FBRM和PVM，梅特勒-托利多是實時原位顆粒系統(tǒng)特性分析的*者。顆粒自然存在于工藝過程中便可得到測量分析的能力極大地改進了人們理解、優(yōu)化和控制顆粒與液滴系統(tǒng)的能...

簡介：貝克曼庫爾特LS13320系列全新微納米激光粒度儀應用顆粒光散射原理，據(jù)光學理論推算顆粒粒度分布，主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析，其特點是粒度分析動態(tài)范圍寬，分辨能力為同行業(yè)中較高；操作簡便...

簡介：780AD大顆粒粒徑檢測儀為PSS粒度儀公司的高技術產(chǎn)品，是目前先進技術的代表，對粒徑檢測的同時對粒子進行計數(shù)。

簡介：Nicomp380DLS納米粒度儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布,粒徑檢測范圍0.5nm–6nm。粒度分析復合采用Gaussian單峰算法和擁有技術的Nicomp多峰算法，對于多...

簡介：Nicomp380DLS納米粒度儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍0.5nm–6nm。粒度分析復合采用Gaussian單峰算法和擁有技術的NiComp多峰算法，對于多...

簡介：AccuSizerFXNano高濃度顆粒計數(shù)器集原樣進樣檢測、自動稀釋等全自動檢測功能于一身，為用戶提供可方便、快捷、高效、可靠的粒徑分析。

簡介：CMP在線檢測儀是用于CMP機臺端拋光液在線檢測，可以監(jiān)測CMP拋光液中大粒子含量，可以很好的控制拋光效率，提高成品率。

簡介：AccuSizer780乳劑檢測儀為美國藥典USP729規(guī)定使用產(chǎn)品，用于檢測美國藥典USP729中規(guī)定的PFAT5值。

簡介：Nicomp380ZLS粒度檢測分析儀采用先進的設計理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設計，充分有效地融合了動態(tài)光散射（DLS）和電泳光散射（ELS）技術，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度...