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庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀原理
面議1755簡(jiǎn)介：庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀原理、作為測(cè)量鍍層厚度*簡(jiǎn)單的方法之一，庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)，當(dāng)允許破壞性測(cè)量時(shí)，它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。應(yīng)用：強(qiáng)大并且用戶友好的COULO...
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德國(guó)菲希爾臺(tái)式儀器庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀
面議1755簡(jiǎn)介：德國(guó)菲希爾臺(tái)式儀器庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀CULOSCOPECMS是菲希爾的臺(tái)式裝置，用于測(cè)量單層或多層金屬或非金屬基材上金屬涂層的庫(kù)侖法涂層厚度。它測(cè)量厚度從0.05到40微米不等。它還通過帶有V18支...
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德國(guó)菲希爾庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀面議1755簡(jiǎn)介：德國(guó)菲希爾庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀作為測(cè)量鍍層厚度*簡(jiǎn)單的方法之-一，庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)，當(dāng)允許破壞性測(cè)量時(shí)，它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶友好的COULO...
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菲希爾epk庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀
面議1755簡(jiǎn)介：菲希爾epk庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金...
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庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀 CMS2 STEP電位差測(cè)量面議1755簡(jiǎn)介：庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀CMS2STEP電位差測(cè)量強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPECMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)。很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用CMS2簡(jiǎn)單快...
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CULOSCOPE CMS 菲希爾電解測(cè)厚儀
面議1755簡(jiǎn)介：CULOSCOPECMS菲希爾電解測(cè)厚儀CULOSCOPECMS：如果不能或不需要使用非破壞性方法，它是測(cè)量金屬或非金屬基材上幾乎所有金屬涂層（尤其是多層涂層）厚度的理想儀器。CULOSCOPEC...
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進(jìn)口庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀
面議1755簡(jiǎn)介：進(jìn)口庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀德國(guó)EPK（Elektrophysik）公司庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest3000，應(yīng)用庫(kù)侖電量分析原理。其過程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍?？梢杂糜跍y(cè)...
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GalvanoTest 2000/3000電解式測(cè)厚儀
面議1755簡(jiǎn)介：GalvanoTest2000/3000電解式測(cè)厚儀GalvanoTest電解式鍍層測(cè)厚儀是一種多功能和復(fù)雜的厚度計(jì)，用于在金屬或非金屬基底上測(cè)量幾乎所有類型的電鍍單層或多層涂層，如鉻，鎳，黃銅，...
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COULOSCOPE CMS2-菲希爾電解測(cè)厚儀及配件
面議1755簡(jiǎn)介：COULOSCOPECMS2-菲希爾電解測(cè)厚儀及配件儀器高的電壓分辨率可以測(cè)量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化...
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GalvanoTest電解式測(cè)厚儀（ElektroPhysik）面議1755簡(jiǎn)介：GalvanoTest電解式測(cè)厚儀（ElektroPhysik）GalvanoTest供應(yīng)兩個(gè)型號(hào)：GalvanoTest2000是基礎(chǔ)型號(hào)，無需其他任何附件測(cè)量各種涂層/基體組合?；谑褂梅奖愕?..
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