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簡介：測量時(shí)間在亞毫秒量級，可以靈敏地測量亞單分子層的厚度，光學(xué)常數(shù)，質(zhì)量分布，組合式多功能橢偏儀是用來研究快速反應(yīng)動(dòng)力學(xué)的理想工具，它已成為生物傳感領(lǐng)域的一種標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)。

簡介：AutoSE-一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀全自動(dòng)化&高集成度&可視化光斑操作簡單，測試快速，為一般操作工人設(shè)計(jì)

簡介：智能型多功能橢偏儀是一款針對單層和多層薄膜進(jìn)行簡單，快速，精確表征和分析的工具。多功能性設(shè)計(jì)，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實(shí)現(xiàn)在線與離線配置切換。

簡介：儀器為光譜型橢偏儀，它的設(shè)計(jì)緊湊、易于使用，可以精確測量膜層的厚度和折光系數(shù)。

簡介：橢偏儀主要應(yīng)用在薄膜科學(xué)相關(guān)的各行業(yè)，用來測量薄膜（多層）的厚度、粗糙度以及光學(xué)常數(shù)（如吸收系數(shù)、折射率等）（1）半導(dǎo)體工業(yè)的各種薄膜和多層結(jié)構(gòu)。（2）光電子工業(yè)的涂層（3）數(shù)據(jù)存儲工業(yè)的磁膜（4...

簡介：NKD-8000系統(tǒng)綜合了光學(xué)、電子學(xué)和高級分析軟件，是目前測定多層薄膜和基片的折射率、吸收系數(shù)和厚度zui精確、zui易用的系統(tǒng)

簡介：系統(tǒng)規(guī)格：波長范圍：350~850nm入射角：30°~90°解析度：±0.01°待測樣品尺寸：upto200mm精度：1200ASiO2標(biāo)準(zhǔn)片厚度：（Tks）：±6A折射率（N）：±0.01at6...

簡介：系統(tǒng)規(guī)格：波長：637nm入射角：連續(xù)，30~90°（±0.03°）樣品尺寸：4inch~8inch精度：（1200ASiO2標(biāo)準(zhǔn)片，5times）TKS±2.5A/N±0.005尺寸：80cm×...

簡介：SPECEI-2000是一款應(yīng)用橢圓偏光原理的臺式薄膜測量系統(tǒng)，適用于平面多層膜厚測量，如晶片、玻璃片等。分光橢偏儀可以測量光的多層反射，除了強(qiáng)度之外，也可以測量相對的相位和振幅變化，利用這種技術(shù)...

簡介：多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有*的精確度和準(zhǔn)確度。