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簡介：X射線電鍍層厚度檢測儀又稱金屬涂鍍層厚度測試儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準則，故市場上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波?？梢暪饩€的波長為0.000001...

簡介：X射線電鍍層厚度分析儀又稱金屬涂鍍層厚度測試儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準則，故市場上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波?？梢暪饩€的波長為0.000001...

簡介：新型FT160XRF鍍層分析儀適用于當今微型電子器件的先進微焦斑和超薄鍍層分析儀

簡介：FISCHERSCOPEXAN222x射線熒光測厚儀XAN?系列儀器的主要應(yīng)用是金和其他貴金屬合金的涂層厚度測量和分析，該系列產(chǎn)品以其易用性和*的性價比而脫穎而出。過濾器可以根據(jù)要求進行調(diào)整，從而...

簡介：菲希爾（Fischer）X射線熒光測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXAN220/222,X射線熒光測量儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金：X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度...

簡介：德國原產(chǎn)FISCHERXDL230x射線熒光測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶...

簡介：FISCHERSCOPE-XDL-BX射線熒光測厚儀FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。XDL-B的特色是特別的距...

簡介：X射線鍍層測厚儀XDAL237在設(shè)計上，F(xiàn)ISCHERSCOPEX-RAYXDAL型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有...

簡介：ROHS分析儀器-天瑞指令中的“電子電氣設(shè)備”，指的是設(shè)計使用電壓為交流電不超過1000V和直流電不超過1500V的、正常工作需要依賴電流或者電磁場的設(shè)備和實現(xiàn)這些電流與磁場的產(chǎn)生、傳遞和測量的設(shè)...

簡介：BK920分體式涂層測厚儀產(chǎn)品特點：1、采用了磁性和渦流兩種測厚方法，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度