納米級鍍層的快速、準(zhǔn)確分析
FT160 XRF鍍層分析儀準(zhǔn)確、可靠地測量小部件上的鍍層，有助于您在PCB、半導(dǎo)體晶片和微連接器上維持一致且準(zhǔn)確的鍍層。
FT160專為微焦斑和超薄鍍層分析而設(shè)計(jì)，針對小部件的測量優(yōu)化了光學(xué)系統(tǒng)和探測器技術(shù)。
使用FT160 XRF鍍層分析儀可實(shí)現(xiàn)更多操作：
高強(qiáng)度X射線——儀器的核心是一個具有30μm光束的新型毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)，非常適合微小的半導(dǎo)體圖案和超小組件。
高靈敏度的SDD探測器——這款高性能設(shè)備使計(jì)數(shù)速率翻倍，從而提高生產(chǎn)率。
高清相機(jī)——觀察相機(jī)的分辨率高，其具有16倍數(shù)字變焦功能，更容易觀察半導(dǎo)體和PCB表面并易于導(dǎo)航。
智能控制器軟件——可對FT160進(jìn)行依照形狀和圖案自動查找測量位置的編程，以提高測量吞吐量和準(zhǔn)確性。
精密分析
樣品臺定位精度和毛細(xì)管X射線光學(xué)系統(tǒng)能提供高精度，可測量尺寸小于50µm的部件上的納米級鍍層。
快速分析
與傳統(tǒng)裝置相比，F(xiàn)T160內(nèi)的新型高強(qiáng)度毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)和改良版SDD探測器有助于使儀器的測量吞吐量翻倍。
多功能性
大型樣品門有助于輕松裝載和移除部件，同時大型樣品臺可容納各種形狀和尺寸的組件。
耐用性
堅(jiān)固耐用的機(jī)架經(jīng)過設(shè)計(jì)和測試，可在具有挑戰(zhàn)性的生產(chǎn)或?qū)嶒?yàn)室環(huán)境中長時間使用。
FT160的強(qiáng)大功能使其成為工作繁重的實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。為維持工作流程，這些實(shí)驗(yàn)室注重準(zhǔn)確性、多功能性和分析效率。
FT160能夠提供：
|毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度的SDD探測器，以提供出色準(zhǔn)確性。
|測量尺寸小于50µm的部件。
|快速結(jié)果和使用簡易性，以支持高吞吐量。
|用于快速設(shè)置樣品的大型樣品門和樣品臺。
|進(jìn)行測試觀察的大型樣品觀察窗。
