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簡介：*的參比環(huán)設(shè)計；符合ISO14577標(biāo)準(zhǔn)；測試功能模塊化設(shè)計；其壓痕儀設(shè)備涵蓋了微觀、納觀以及超納觀領(lǐng)域的各種材料機械性能的研究，力學(xué)分辨率高達1nN。

簡介：主要用于納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結(jié)果通過壓入載荷大小與壓入深度的曲線計算得出，無需通過顯微鏡觀察壓痕面積

簡介：TheMMLNanoTestTM系統(tǒng)是一臺多功能的納米性能測試系統(tǒng),提供全面的納米機械和納米摩擦測量。

簡介：安捷倫NanoInstruments推出的新型NanoIndenterG200，是在微、納米尺度上研究材料性質(zhì)的zui為*的測試平臺。

簡介：瑞士CSM儀器公司的超納米壓痕測試儀器專門為要求超高分辨率壓入載荷與位移的*用戶設(shè)計制造。

簡介：主要用于納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結(jié)果通過壓入載荷大小與壓入深度的曲線計算得出，無需通過顯微鏡觀察壓痕面積。

簡介：美國Hysitron（海思創(chuàng)）TS-75型納米壓痕儀TS-75型納米壓痕儀，可以同現(xiàn)有的原子力顯微鏡（AFM）結(jié)合，進行業(yè)界*的納米力學(xué)表征和原位掃描成像。

簡介：HysitronTI-950型納米壓痕儀/納米力學(xué)測試系統(tǒng)用于納米壓痕測試、納米劃痕測試、納米摩擦磨損和原位SPM成像。

簡介：TI-950納米壓痕儀是*的納米力學(xué)檢測儀器，提供了業(yè)界*的靈敏度和*的性能。TI-950設(shè)計為自動的、高通量儀器，支持Hysitron開發(fā)的許多納米力學(xué)表征技術(shù)。

簡介：.產(chǎn)品名稱：PI-85型納米壓痕儀（SEM——電子顯微鏡）生產(chǎn)廠家：HysitronInc.產(chǎn)地：美國產(chǎn)品簡介：PI-85SEMPicoIndenter?是可以集成在掃描電子顯微鏡（SEM）里的一...