相關(guān)產(chǎn)品分類
- +天平/衡器
- +溫度計(jì)量?jī)x器
- +長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器
- +表面測(cè)量?jī)x器
- +電學(xué)計(jì)量?jī)x器
- +壓力計(jì)量?jī)x器
- +流量計(jì)量?jī)x器
-
+其它測(cè)量/計(jì)量?jī)x器
- 無(wú)線電計(jì)量?jī)x器
- 聲學(xué)計(jì)量?jī)x器
- 測(cè)速儀
- 熱工量測(cè)量?jī)x表/溫度測(cè)量?jī)x表/流量測(cè)量?jī)x表
- 定時(shí)器
- 攝像機(jī)
- 光學(xué)計(jì)量?jī)x器
- 化學(xué)計(jì)量?jī)x器
- 輻射計(jì)量?jī)x器
- 時(shí)間頻率計(jì)量?jī)x器
- 電磁學(xué)計(jì)量?jī)x器
- 位移測(cè)量?jī)x,力測(cè)量?jī)x
- 在機(jī)測(cè)量
- 數(shù)據(jù)采集器
- 激光跟蹤儀
- 水位計(jì)、水位傳感器
- 真空計(jì)
- 傳感器/敏感元件
- 測(cè)振儀
- 雨量計(jì)
- 粒子圖像測(cè)速儀(PIV)
- 電子傾角儀
- 圖示儀
- 掃頻儀
- 線速表
- 轉(zhuǎn)速表
- 推拉力計(jì)
- 位移測(cè)量?jī)x
- 其它測(cè)量?jī)x器
- 其它計(jì)量?jī)x器
-
面議750
簡(jiǎn)介:低價(jià)格的小型LD干涉儀。用于多種少量的小型鏡片的生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)上的快速品質(zhì)檢查。通過(guò)簡(jiǎn)單操作來(lái)進(jìn)行檢查。
北京元中銳科集成檢測(cè)技術(shù)有限 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
面議750
簡(jiǎn)介:低價(jià)格的小型LD干涉儀。手掌大小、操作簡(jiǎn)便。只要放置被檢鏡片,便可簡(jiǎn)單迅速地進(jìn)行測(cè)定。
北京元中銳科集成檢測(cè)技術(shù)有限 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
面議750
簡(jiǎn)介:透過(guò)波面測(cè)定干涉儀KIF-PU是解析光學(xué)部品的透過(guò)波面像差的干涉儀系統(tǒng)。特別在光讀取頭用的生產(chǎn)線中,是評(píng)價(jià)對(duì)物透鏡以及準(zhǔn)直透鏡的透過(guò)波面的系統(tǒng)。
北京元中銳科集成檢測(cè)技術(shù)有限 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
面議750
簡(jiǎn)介:應(yīng)用了KIF-10A,用于測(cè)量光圈數(shù)目的測(cè)定儀。通過(guò)光圈數(shù)目與元器的比較,可簡(jiǎn)單地短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)定。因采用非接觸的測(cè)定方式,不用擔(dān)心會(huì)破壞鏡片面以及元器。是在制造現(xiàn)場(chǎng)的工序測(cè)定中*的新檢測(cè)工具。
北京元中銳科集成檢測(cè)技術(shù)有限 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
面議750
簡(jiǎn)介:使用在生產(chǎn)制造顯微鏡·光學(xué)拾波等過(guò)程中培育的小口徑測(cè)量技術(shù),開(kāi)發(fā)而來(lái)的使用簡(jiǎn)單小型干涉儀。
北京元中銳科集成檢測(cè)技術(shù)有限 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
面議750
簡(jiǎn)介:安裝在KIF-202/KIF-402系列干涉儀上,通過(guò)條紋掃描方式取得被測(cè)物的波面相位并顯示且保存測(cè)定結(jié)果的干涉條紋解析系統(tǒng)。用于*以及生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)中對(duì)平面以及球面的面精度進(jìn)行定量評(píng)價(jià)。
北京元中銳科集成檢測(cè)技術(shù)有限 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
面議750
簡(jiǎn)介:干涉條紋數(shù)值化配套元件KIF-FS10A,是指將從干涉儀系統(tǒng)KIF-10A系列的干涉條紋得出的像差數(shù)值化顯示的系統(tǒng)。
北京元中銳科集成檢測(cè)技術(shù)有限 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
面議0
簡(jiǎn)介:一次安裝能夠同時(shí)測(cè)量線性軸的六個(gè)誤差,包括1個(gè)位置度誤差、2個(gè)直線度誤差、3個(gè)角度誤差。在通常情況下需要數(shù)天時(shí)間進(jìn)行的測(cè)試,使用API激光干涉儀只需幾個(gè)小時(shí)即可完成,實(shí)際應(yīng)用結(jié)果表明,節(jié)省時(shí)間可達(dá)...
東莞市宏格電子科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:東莞市我要詢價(jià) -
面議0
簡(jiǎn)介:Renishaw提供品種繁多的精密光柵測(cè)量系統(tǒng),包括高速直線光柵、平面光柵和圓光柵??梢詰?yīng)用于三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)、電子設(shè)備、半導(dǎo)體加工設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備、掃描/印刷、科學(xué)儀器、超高精度機(jī)器和裝置、...
北京北成新控伺服技術(shù)有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:北京市我要詢價(jià) -
面議0
簡(jiǎn)介:由德國(guó)JENAer公司生產(chǎn)的微位移測(cè)量激光干涉ZLM800儀,主要用于微位移部件的測(cè)量,角度變化量的監(jiān)測(cè),運(yùn)動(dòng)平臺(tái)變化量的檢測(cè),及光刻機(jī)幾何量的測(cè)量,數(shù)控機(jī)床幾何量的測(cè)量等。
上海貝丁漢工業(yè)自動(dòng)化設(shè)備有限 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:上海市我要詢價(jià)