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簡介：TH-5991:1.采用脈沖測試法，適合于各種揚(yáng)聲器、耳機(jī)、動(dòng)圈受話機(jī)的極性測試2.多檔脈沖幅度可供選擇3.生光指示當(dāng)前極型，可選擇正極或負(fù)極報(bào)警4.可外接試音信號，同時(shí)監(jiān)聽揚(yáng)聲器的純音

簡介：SDY-4四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀器。

簡介：SDY-4型四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀器.

簡介：SDY-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和...

簡介：XX-2型方塊電阻測試儀,是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品,是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì),專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器.可用于測量一般半導(dǎo)體材...

簡介：SX－1934型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率，測量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻（方塊電阻）。

簡介：射霧影儀dual根據(jù)兩種指標(biāo)客觀地測量全透過率和透射霧影：快速測量大量樣品

簡介：EELM57D霧度計(jì)用于測量透明或半透明材料，比如：塑料片材、薄膜、玻璃和液體產(chǎn)品。其*的光學(xué)設(shè)計(jì)滿足眾多行業(yè)對或大或小的樣品的評估需求。

簡介：透光率霧度測定儀適用于一切透明、半透明平行平面樣品

簡介：1)測量范圍：低范圍0-10EBC，精度0.01EBC；高范圍9-100EBC，精度0.1EBC；2)便于4點(diǎn)校正；3)LED大顯示屏；4)可顯示EBC、ASBC、Helm讀數(shù)單位；