SX－1934型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置。它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率，測(cè)量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻（方塊電阻）。

SX1934型數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)

SX－1934型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置。它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率，測(cè)量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻（方塊電阻）。換上特制的四探針測(cè)試夾，還可以以金屬導(dǎo)體的低、中值電阻進(jìn)行測(cè)量。

儀器由電氣箱、測(cè)試架等部份組成，測(cè)試結(jié)果由數(shù)字直接顯示。電氣箱主要由高靈敏度直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定恒流源組成。測(cè)試架探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針。故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長(zhǎng)。 儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測(cè)量范圍寬、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。


訂購(gòu)指南

編號(hào) 品名 主要技術(shù)指標(biāo) 單價(jià)(元)
146025 SX-1934型數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì) 測(cè)量范圍--電阻率：10-4～103Ω-cm，方塊電阻：10-3～104Ω，電阻：10-6～105Ω
可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸--直徑：15～100mm，長(zhǎng)度：≤400mm
測(cè)量方法--軸向、斷面均可
數(shù)字電壓表--量程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V 誤差：0.2mV量程 ±0.5% 讀數(shù)±8字 其它量程 ±0.5% 讀數(shù)±2字 輸入電阻：0.2mV,2mV量程 〉106Ω 其它量程: 〉108Ω 分辯率:0.1μV 顯示：3位半數(shù)字顯示，極性、過載自動(dòng)顯示，小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示
恒流源--直流電流0～100mA連續(xù)可調(diào)；量程：10，100μA，1，10，100mA；誤差：±0.5% 讀數(shù)±2字
四探針測(cè)試探頭--探針間距：1mm；探針機(jī)械游移率：±1.0%；探針：碳化鎢 直徑0.5mm；壓力：0～2Kg可調(diào)，zui大壓力約2Kg
電 源--220V±10% 50Hz～60Hz；功 耗--〈35W
外形尺寸--400（長(zhǎng)）X440（寬）X120（高）mm
工作條件--溫度：23±2℃ 相對(duì)濕度：60～70%；工作室內(nèi)應(yīng)無(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾。不與高頻設(shè)備共用電源


其它產(chǎn)品
CLJ-03A型全半導(dǎo)體激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器

CLJ-03A01型大流量全半導(dǎo)體激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器

CLJ-03A02型手提式全半導(dǎo)體激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器

CLJ-03A03型手持式全半導(dǎo)體激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器

CLJ-03A04型臺(tái)式全半導(dǎo)體激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器

CLJ-03A05型雙流量全半導(dǎo)體激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器

CLJ-01D型雙流量塵埃粒子計(jì)數(shù)器
CLJ-02C多點(diǎn)式環(huán)境參數(shù)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
JYQ-01A型浮游細(xì)菌采樣器
HC-3環(huán)境參數(shù)測(cè)試儀
HC-2數(shù)顯壓差儀
HC-2-1指針式壓差表
LX-101照度計(jì)
QDF-3型風(fēng)速儀
S1401聲級(jí)計(jì)
SX-1934型數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)