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簡(jiǎn)介：快速轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡——用于質(zhì)量保證和控制的表面分析

簡(jiǎn)介：ZEISS商業(yè)化電鏡的歷史和經(jīng)驗(yàn)已超過60年，其技術(shù)*、，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應(yīng)用。ZEISS不斷追求、推出新的技術(shù)和新的產(chǎn)品

簡(jiǎn)介：布魯克nanoIRAFM紅外原子力顯微鏡業(yè)界的nanoIR?產(chǎn)品被學(xué)術(shù)和工業(yè)科學(xué)家、工程師應(yīng)用于軟質(zhì)和硬質(zhì)材料學(xué)和生命科學(xué)。近，Anasys推出的10納米分辨率nanoIR成像進(jìn)一步提高了產(chǎn)品性能...

簡(jiǎn)介：布魯克BioScopeResolve生物型原子力顯微鏡與倒置光學(xué)顯微鏡聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)了高分辨的原子力顯微鏡成像和完整的細(xì)胞力學(xué)性質(zhì)測(cè)量。BioScopeResolve采用了布魯克公司*的PeakFor...

簡(jiǎn)介：Dimension-Edge-掃描探針顯微鏡系統(tǒng)DimensionEdge掃描探針顯微鏡系統(tǒng)基于DimensionIcon?平臺(tái),DimensionEdge系統(tǒng)的整體設(shè)計(jì)使其具有低漂移、低噪音的特...

簡(jiǎn)介：布魯克HysitronPI95透射電鏡測(cè)試系統(tǒng)是TEM的多用途、高靈敏度熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)的測(cè)試系統(tǒng)，在TEM上檢測(cè)時(shí)，直接觀察檢測(cè)過程，使用側(cè)面進(jìn)樣支架，不僅可以實(shí)現(xiàn)納米尺度材料的成像觀察，還可以...

簡(jiǎn)介：TESCANMIRA場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是TESCAN推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡，配置有高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍，在TESCAN的Essence?操作軟件的同一個(gè)窗口中實(shí)現(xiàn)了SEM成像和實(shí)時(shí)元素分...

簡(jiǎn)介：TESCANVEGA鎢燈絲掃描電鏡，采用全新的Essence?電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實(shí)時(shí)分析集成于同一個(gè)掃描窗口中。這種組合大大簡(jiǎn)化了樣品表面形貌的采集及所含元素的數(shù)據(jù)分析工作，使...

簡(jiǎn)介：TESCANVEGACOMPACT鎢燈絲掃描電鏡秉承了前一代VEGA系列電鏡的優(yōu)異性能，是一款入門級(jí)，但功能強(qiáng)大的分析型鎢燈絲掃描電鏡。緊湊簡(jiǎn)約的配置、優(yōu)化的成像能力以及集成的元素成分分析功能，V...

簡(jiǎn)介：TESCANMAGNA超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一款功能極其強(qiáng)大的分析儀器，適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。TESCANMAGNA配置Triglav?型SEM鏡筒，具有超高的分辨率，在低電壓下...