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MAXIM 濺射中性粒子質(zhì)譜儀
面議1350簡(jiǎn)介：MAXIM二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽(yáng)離子動(dòng)態(tài)和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應(yīng)用于SIMS和SNMS的光學(xué)采樣。·光柵控制，增強(qiáng)深度分析能...
北京英格海德分析技術(shù)有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢價(jià) -
SIMS Workstation 二次離子質(zhì)譜儀
面議1350簡(jiǎn)介：二次離子質(zhì)譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描，自動(dòng)測(cè)量正、負(fù)和中性粒子。
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PTR3-TOF VOCs 和大氣自由基分析質(zhì)譜儀
面議1350簡(jiǎn)介：IONICON是高分辨率、高靈敏度、實(shí)時(shí)在線的質(zhì)子傳遞反應(yīng)飛行時(shí)間質(zhì)譜儀的，VOCs和大氣自由基分析質(zhì)譜儀對(duì)揮發(fā)性有機(jī)物進(jìn)行實(shí)時(shí)在線定性及定量分析，用于直接測(cè)量氣體樣品中的痕量揮發(fā)性有機(jī)物。PTR...
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PTR-TOF 4000 高分辨率質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng)飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
面議1350簡(jiǎn)介：小，輕，高分辨率的高分辨率質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng)飛行時(shí)間質(zhì)譜儀PTR-TOFMS檢測(cè)限：靈敏度：8000cps/ppbv分辨率：4500
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PTR-TOF 6000 X2 質(zhì)子傳遞反應(yīng)飛行時(shí)間質(zhì)譜儀面議1350簡(jiǎn)介：質(zhì)子傳遞反應(yīng)飛行時(shí)間質(zhì)譜儀PTR-TOFMS檢測(cè)限：靈敏度：2500cps/ppbv分辨率：6500
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HALO 201 MBE 殘余氣體分析四極質(zhì)譜儀
面議1350簡(jiǎn)介：儀器簡(jiǎn)介：HALO201MBE分子束外延殘余氣體分析四極質(zhì)譜儀用于泄漏探測(cè)、趨勢(shì)分析、真空診斷的過程監(jiān)測(cè)和殘余氣體的分析。該分子束外延特定分析質(zhì)譜儀由兼容性材料組成，并能在分子束外延環(huán)境中長(zhǎng)期使用...
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DECRA / ExQ RM 緊湊型在線質(zhì)譜儀
面議1350簡(jiǎn)介：英國(guó)Hiden公司的DECRA/EXQRM緊湊型在線質(zhì)譜儀是為在常壓附近連續(xù)定量分析氣體/蒸氣的而設(shè)計(jì)；QGA定量分析軟件實(shí)時(shí)輸出定量數(shù)據(jù)。
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APi-TOF 大氣壓進(jìn)樣飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
面議1350簡(jiǎn)介：大氣壓進(jìn)樣飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（APi-TOF）基于ioniTOF平臺(tái)和六極桿ION-GUIDES的同時(shí)檢測(cè)正負(fù)離子的新型大氣壓接口飛行時(shí)間質(zhì)譜儀。
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TOF-qSIMS 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀
面議1350簡(jiǎn)介：HidenTOF-qSIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀工作站設(shè)計(jì)用于多種材料的表面分析和深度剖析應(yīng)用，包括聚合物，藥物，超導(dǎo)體，半導(dǎo)體，合金，光學(xué)和功能涂層以及電介質(zhì)，檢測(cè)限低于1ppm。TOF-qS...
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LAS 泄漏分析系統(tǒng) 在線質(zhì)譜分析方法
面議1350簡(jiǎn)介：HidenLAS泄漏分析系統(tǒng)在線質(zhì)譜分析方法用于電池泄露，及其它小包裝樣品泄露測(cè)試。HidenLAS是自動(dòng)化的，可在質(zhì)量控制或研發(fā)環(huán)境中輕松使用，并可用于分析中小型電池組件的密封性。
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