“原子力顯微鏡技術新進展研討會”四川大學站
1986年成立至今，原子力顯微鏡技術已經(jīng)過30年的發(fā)展。30年間，AFM的功能也從初的表面形貌測量發(fā)展成功能全面的材料物性測試工具。隨著技術的進步，如今第三代原子力顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像，快速掃描的能力，并且更易操作。
牛津儀器原子力顯微鏡將在南京大學和四川大學分別舉行“原子力顯微鏡技術新進展研討會”。兩場研討會將分別就AFM技術進展和納米電學性能表征測試等議題進行分享，我們還為大家現(xiàn)場演示超高分辨率，具有快速掃描能力的CypherS型AFM。歡迎大家參加！
“原子力顯微鏡技術新進展研討會”四川大學站
時間：2016年11月23日
地點：四川大學望江校區(qū)（成都市一環(huán)路南一段24號紅瓦寺街北苑賓館三樓茶坊大會議室）
| 時間 | 安排 | 報告人 |
| 8：30-9：00 | 注冊 | |
| 9：00-9：40 | AFM簡述 | Dr. David BECK |
| 9：40-10：15 | 使用AFM的納米力學方法對材料的表征和研究 | Dr. Jonathan MOFFAT |
| 10：15-10：30 | 茶歇 | |
| 10：30-11：15 | 使用AFM的電學方法對材料的納米尺度表征和研究 | Dr. Jonathan MOFFAT |
| 11：15-12：00 | AFM技術的新進展和應用 | AR |
| 13：30-15：15 | AFM高分辨成像模式展示 | AR |
| 15：30-17：00 | AFM功能模式展示（PFM\SKPM） | AR |
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