1986年成立至今，原子力顯微鏡技術(shù)已經(jīng)過30年的發(fā)展。30年間，AFM的功能也從初的表面形貌測量發(fā)展成功能全面的材料物性測試工具。隨著技術(shù)的進(jìn)步，如今第三代原子力顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像，快速掃描的能力，并且更易操作。
　　
　　牛津儀器原子力顯微鏡將在南京大學(xué)和四川大學(xué)分別舉行“原子力顯微鏡技術(shù)新進(jìn)展研討會”。兩場研討會將分別就AFM技術(shù)進(jìn)展和納米電學(xué)性能表征測試等議題進(jìn)行分享，我們還為大家現(xiàn)場演示超高分辨率，具有快速掃描能力的CypherS型AFM。歡迎大家參加！
　　
　　“原子力顯微鏡技術(shù)新進(jìn)展研討會”南京大學(xué)站
　　
　　時間：2016年11月22日
　　
　　地點(diǎn)：南京大學(xué)仙林校區(qū)（仙林大道163號南京大學(xué)電子科學(xué)與工程系）