品牌：菲希爾樣品電大高度：140mmX/Y軸平臺移動速度：60mm/s

  X-RAY XDV-SDD是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層側(cè)厚及材料分析儀。它特別適合用于測量和分析超薄鍍層及進行痕量分析。其配備了高精度、可編程的X/Y軸工作臺，是全自動測量樣品的理想設備。

1.分析超薄鍍層，如：厚度≤0.1um的Au和Pa鍍層；

2.印刷線路板上RoHs及WEEE要求的痕量分析；

3.黃金成分分析

4.測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層；

5.分析復雜的多鍍層系統(tǒng)；

6.全自動測量，如：用于質(zhì)量控制領域。