WET-SPM控制氣氛掃描探針顯微鏡選配具有技術的環(huán)境試驗箱（手套箱），可以控制樣品和周邊環(huán)境，在可控氣氛下進行樣品處理，并直接進行SPM觀察。

WET-SPM控制氣氛掃描探針顯微鏡特點

可進行氣氛控制下的SPM觀察。

可控制全體周圍環(huán)境，通過大型觀察孔和一雙操作手套，可自由地在分析室內部進行前處理。

作為in-Situ SPM 可追蹤使溫度、濕度、壓力、光量、濃度等發(fā)生變化時的樣品變化。

手套孔 2個（兩軸）
真空泵 旋轉泵 渦輪分子泵（選配）
減振機構 內裝空氣彈簧式減振臺
加熱/冷卻機構，氣氛吹掃機構等