原子力顯微鏡 XE-100可以實(shí)現(xiàn)精確的納米計(jì)量和無損檢測。新增的多區(qū)域自動掃描功能，更是*的提高了檢測效率。該系統(tǒng)可廣泛的應(yīng)用于材料科學(xué)、聚合物、電化學(xué)等諸多領(lǐng)域。

原子力顯微鏡 XE-100技術(shù)參數(shù)（機(jī)械部分）：
1. XY掃描器：50µm×50µm（閉環(huán)），可選配100µm×100 µm（閉環(huán)）
2. Z掃描器：12µm （可選配25µm）
3. 水平度：50µm線掃描垂直偏差不超過±1nm
4. XY和Z掃描器的正交性：1.0°
5. 樣品臺移動范圍：25mm×25mm（X/Y），27.5mm （Z）
6. 樣品尺寸：100mm×100mm
7. 光學(xué)觀察：垂直光路設(shè)計(jì)，可直接觀察微懸臂和樣品

原子力顯微鏡 XE-100技術(shù)參數(shù)（電子部分）
1. 微處理器：600MHz，4800MIPS DSP
2. 模數(shù)/數(shù)模：16位，500kHz采樣頻率
3. 圖像采集：同步自動采集16幅圖像，分辨率高達(dá)4096×4096像素
4. 通訊方式：采用基于TCP/IP協(xié)議的通訊方式與計(jì)算機(jī)聯(lián)接
5. 符合CE認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)