超高分辨率的單峰、多峰和多顆粒分散體系粒度的分布

優(yōu)異的顆粒分級

計數(shù)效率高（高頻數(shù)字化、脈沖分析和分級）

寬泛的動態(tài)范圍（可測量40 nm到8µm的粒徑），無需切換范圍或改變組件

檢測時間短

易于操作

樣品量少

嵌入式觸屏和基于服務(wù)器/瀏覽器的軟件

通過參考粒子進行單點校準

單粒子光散射技術(shù)（SPLS）記錄通過單個納米粒子和微米粒子散射到不同方向的光，同時通過非球形橫截面的聚焦激光束。

通過在光學流通池中進行流體動力聚焦，將單個粒子排列成一條直線。這樣，通過壓力差產(chǎn)生了中間的樣品流和周圍的鞘流。鞘流為樣品流創(chuàng)造了一種流體壁，并防止了機械阻塞。樣品流的橫截面可以動態(tài)調(diào)整（因數(shù)35），而無需改變機械部件。因此，可以容易地將流動條件調(diào)整為樣品濃度，從而避免濃度峰值的影響。

當單個粒子穿過激光束時，光會在所有方向上散射。通過兩個PMT同時記錄光的前向和側(cè)向散射，并在放大和數(shù)字化后進行實時分析。為每個粒子計算的散射光強度最多可分類為4.2x106通道，并以高分辨率條形圖顯示，在易于使用的觸摸屏上顯示計數(shù)分布。根據(jù)米氏理論，將分類強度轉(zhuǎn)換為粒度分布密度。測量，數(shù)據(jù)存儲和分析由軟件平臺SEPView®提供支持。

可以同時確定每個確定的尺寸分數(shù)的顆粒濃度是一個很大的優(yōu)勢。 SPLS技術(shù)使您可以深入了解復(fù)雜的納米和亞微米顆粒系統(tǒng)，從而幫助您設(shè)計定制的顆粒和分散體。