納米粒度及zeta電位分析儀
第一：產品介紹
Nano9300SZ 系列納米粒度及zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位 。納米顆粒由于粒徑十分細小，其表面的晶體結構發(fā)生變化，從而在電學、光 學和化學活性等方面表現(xiàn)出自身的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的主要 參數，準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta 電位是表征膠體 分散系穩(wěn)定性的關鍵參數，Zeta電位越高，膠體就越穩(wěn)定，反之，Zeta 電位越低，膠體穩(wěn)定性就越差，通過測量和調整膠體的Zeta電位，就可以控 制其穩(wěn)定性。因此，Nano9300 SZ系列納米粒度及 Zeta 電位分析儀廣泛應用于 產品開發(fā)、生產、質量控制以及科學研究。
產品類別
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| 型號 | Nano9300SZ
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| 技術類型 | 采用背向動態(tài)光散射技術 可以測量高濃度樣品的粒度
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| 經典動態(tài)光散射（DLS） | ----
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| 背向動態(tài)光散射（BSDLS） | √
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| 多角度動態(tài)光散射（MADLS） | ---- |
| 電泳光散射（ELS） | √
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| 測量角度 | 11°+175°
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| 測量類型 |
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| 粒度 | √
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| Zeta電位 | √
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| 分子量 | √
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| 溫度/時間趨勢 | √
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| 粘度 | √
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| 優(yōu)勢 | 使用背向散射光路，減少多次散射光，可測 ·量樣品濃度范圍更寬 ·由于灰塵的散射光集中在前向散射區(qū)域，因 ·此背向散射光路可以有效降低灰塵的影響 ·背向散射體積較大，能采集到更多的散射光， ·因此測量靈敏度更高 |
各款區(qū)別，請聯(lián)系售前
㈠顆粒度的測量
a、測量原理
當激光照射到分散于液體介質中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏 移，導致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關，而顆粒 的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動速度慢，反之顆粒小布朗運動速度 快，因此動態(tài)光散射技術是分析樣品顆粒的散射光強隨時間的漲落規(guī)律，使用光子探測器在固 定的角度采集散射光，通過相關器進行自相關運算得到相關函數，再經過數學反演獲得顆粒粒徑信息。
b、技術特點
⑴背散射光路：使用背散射光路接收散射光，減小散射光程，減弱多次散射光，進而可以測量高 濃度樣品的顆粒粒度
⑵大動態(tài)范圍高速光子相關器：采用高速、低速通道搭配的光子相關器，有效解決了硬件資源與 通道數量之間的矛盾，實時獲取動態(tài)范圍大、基線穩(wěn)定的相關函數
⑶剔除灰塵干擾：引入分位數檢測異常值的方法，鑒別受灰塵干擾的散射光數據，并剔除異常 值，提高粒度測量結果的準確性
⑷多角度數據反演：從多個不同的散射角度采集散射光強，可以獲得更多的顆粒粒度信息，并將 多個自相關函數結合到一個數據分析中，提供高分辨率且與角度無關的粒度測量結果
⑸溫度趨勢分析：按照設定的溫度范圍，自動進行粒度和Zeta電位測量，檢測樣品粒度或Zeta電 位的溫度趨勢
⑹超微量樣品池：超微量毛細管樣品池，樣品量低至3µL，且由于光程短，可減弱多次散射光， 能顯著提升樣品濃度上限
⑺標準化操作(SOP)：軟件具有標準化操作功能，讓不同實驗室、不同實驗員間的測量按照同一 標準進行，測量結果更具可比性
⑻智能化測量：自動調整散射光強，自動優(yōu)化光子相關器參數，自動設置測量參數，以適應不同 樣品，讓測量變得輕松愉快
⑼法規(guī)軟件：軟件符合FDA 21 CFR Part 11的要求，可設置/修改用戶組的訪問權限，具有電子 記錄/電子簽名和審計跟蹤功能，符合制藥企業(yè)的法規(guī)要求
c、智能納米激光粒度儀樣品池類型
| 聚苯乙烯樣品池( HL0100) 用于測量粒度和分子量 適用于水性分散劑 樣品量：0.8mL-2.0mL |
| 石英樣品池( HL0002) 用于測量粒度和分子量 兼容水性及非水性分散劑 樣品量：0.8mL-2.0mL |
| 聚苯乙烯微量樣品池( HL0010) 用于測量粒度 適用于水性分散劑 樣品量：50μL |
| 玻璃樣品池( HL0002) 用于測量粒度和分子量 兼容水性及非水性分散劑 樣品量：0.8mL-2.0mL |
| 毛細管超微量樣品池( HL0003) 用于測量粒度/僅適用于90度角測量 兼容水性及非水性分散劑 最小樣品量：3μL |
d、納米粒度應用范圍
| 納米材料 | 用于研究納米金屬氧化物、納米金屬粉、納米 陶瓷材料的粒度對材料性能的影響。 |
| 生物醫(yī)藥 | 分析蛋白質、DNA、RNA、病毒，以及各種抗 原抗體的粒度。 |
| 精細化工 | 用于尋找納米催化劑的最佳粒度分布，以降低 化學反應溫度，提高反應速度。 |
| 油漆涂料 | 用于測量油漆、涂料、硅膠、聚合物膠乳、顏 料、油墨、水/油乳液、調色劑、化妝品等材料 中納米顆粒物的粒徑。 |
| 食品藥品 | 藥物表面包覆納米微?？墒蛊渚徛忈?，并可 以制成靶向藥物，可用來測量包覆物粒度的大 小，以便更好地發(fā)揮藥物的療效。 |
| 航空航天 | 在火箭固體推進劑中添加納米金屬粉，可以顯 著改進推進劑的燃燒性能，可用于研究金屬粉 的最佳粒度分布。
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| 國防科技
| 納米材料增加電磁能轉化為熱能的效率，從而 制成電磁波吸波材料，提高對電磁波的吸收性 能，不同粒徑納米材料具有不同的光學特性， 可用于研究吸波材料的性能。 |
㈡：zeta電位的測量
a、測量原理
懸浮在液體中的顆粒表面往往帶有電荷，帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運動，單位電場強度下的電泳速度定義為電泳遷移率。顆粒在電泳遷移時，會帶著緊密吸附層和部分擴散層一起移動，與液體之間形成滑動面，滑動面與液體內部的電位差即為 Zeta電位。Zeta電位是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標，Zeta電位越高，顆粒間的相互排斥力越大，膠體體系越穩(wěn)定，因此通過測量Zeta電位可以預測膠體的穩(wěn)定性。Zeta電位與電泳遷移率的關系遵循Henry方程，通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能 計算出顆粒的Zeta電位。電泳光散射(ELS)法通過測量散射光的頻率偏移，來獲得顆粒的電泳 遷移率，進而確定Zeta電位。而相位分析光散射(PALS)法則通過測量散射光信號的相位變化 來獲得顆粒的電泳遷移率，分辨率比電泳光散射法高兩個數量級，從而提高了Zeta電位的測 量精度。
b、性能特點
⑴全光纖光路：使用單模保偏光纖替代分立光路，使參考光和散射光信號不再受灰塵和雜散光 的干擾，提高了光拍信號的信噪比和抗干擾能力
⑵精確函數表達式：基于雙電層理論模型，求解顆粒的雙電層厚度，獲得準確的顆粒半徑與雙 電層厚度的比值，再利用最小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數表達式，進而提高了Zeta電 位的計算精度
⑶U形毛細管樣品池：使用U形毛細管樣品池測量Zeta電位，由于樣品池底部是水平的，從而使 得電場強度比傳統(tǒng)的毛細管樣品池更加均勻，減少測量誤差，進而提高了Zeta電位的測量精 度與重復性 插入式平板電極：
⑷提供插入式平板電極用于測量水溶液或有機溶液中樣品的Zeta電位，平板 電極由耐腐蝕的鉑金屬制成，清洗后可重復使用。平板電極與塑料或玻璃樣品池配合使用， 方便快捷
⑸相位分析光散射技術(PALS)：通過測量光拍信號的相位變化來獲得顆粒的Zeta電位，測量分 辨率比電泳光散射法高兩個數量級
c、zeta電位儀樣品池類型
| U型毛細管樣品池( HL0090) 用于測量Zeta電位 適用于水性分散劑 樣品量：0.7mL-0.9mL U形毛細管樣品池由于樣品池底部是水平結構，從而在 測量點附近獲得比半圓形毛細管樣品池更加均勻的電場， 進而提高了Zeta電位測量的重復性與重現(xiàn)性。 |
| “插入式"平板電極(DIP0770) 用于測量Zeta電位，需配合聚苯乙烯或玻璃樣品池 適用于水性或非水性分散劑 樣品量：0.7mL-1.0mL |
d、zeta電位儀可選配件
| 自動滴定儀 滴定儀需與主機聯(lián)用，在測量過程中自動向樣品添加 一定數量的酸、堿或鹽等添加劑，用于測量Zeta電 位時pH值的滴定，是等電點測量的良好選擇 |
| 粘度計 粘度計是獨立配件，用于測量分散劑特別是復合分散 劑的粘度 |
e、zeta電位應用領域
| 生物制藥 ：可用于藥品和工業(yè)用乳膠表面重整控制 |
| 表面活性劑 ：用于表面活性劑功能分析與研究 |
| 造紙行業(yè)： 研究紙漿添加劑性能研究 |
| 聚合物 ：用于電解聚合物功能研究 |
| 生物領域 ：分析與研究蛋白質功能 |
| 食品藥品 ：用于食品、香水、藥品和化妝品等乳劑 的分散和凝聚控制 |
| 生命科學： 應用于核糖體分散和凝聚控制研究 |
第二、軟件控制
㈠強大易用的控制軟件
Nano9300SZ系列納米粒度及Zeta電位分析儀的控制軟件具有納米顆粒粒度和Zeta電位等測量功能，一鍵式測量，無需用戶干預 ，自動調整散射光強，自動優(yōu)化光子相關器參數，以適應不同樣 品，讓測量變得輕松愉快?？刂栖浖哂袠藴驶僮?SOP)功能 ，讓不同實驗室，不同實驗員間的測量按照同一標準進行，測 量結果更具可比性。測量完成自動生成報表，以可視化的方式展 示測量結果，讓測量結果一目了然。
㈡剔除灰塵干擾
如果樣品中含有灰塵，則會使散射光強發(fā)生躍變，導致錯誤 的測量結果。Nano9300SZ使用分位數檢測異常值的方法，自適應改 變閾值，鑒別散射光數據中的“尖峰"，并剔除異常值。剔除灰 塵干擾數據后，光子計數分布近似為正態(tài)分布，獲得的光強自相 關函數與平穩(wěn)光強計算的光強自相關函數相吻合，反演結果精度 在誤差允許范圍內。
㈢自適應相關函數截取
反演顆粒粒度分布時，需要對相關函數進行截斷。固定點數法不考慮被測樣品顆粒的大 小，截取相同點數的相關函數進行反演。固定閾值法(FACFT)設定某閾值，在相關函數小于該 閾值的點截斷，但此方法無法依據相關函數噪聲大小來調整截斷點。 相關函數均方根誤差閾值(RMSET)法根據被測顆粒大小截取相關函數，大顆粒取較多相關 函數點，小顆粒取較少相關函數點，實現(xiàn)自適應相關函數的截取。由測量結果可知，RMSET 法反演的顆粒粒徑波動性小，重復性好。
第三：技術指標
1、基本技術指標
| 型號 | Nano9300SZ
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| 粒度 |
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測量角度
| 11°+175°
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| 粒度范圍 | 0.3nm-10μm*
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| 測量方法 | 背向動態(tài)光散射(BSDLS) |
| 反演算法 | Cumulants,General model, CONTIN, NNLS自動選擇，無需用戶干預 |
| 最小樣品量 | 50μL*
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| 最小樣品濃度 | 0.2mg/mL
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| 最大樣品濃度 | 40%w/v*
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| Zeta 電位 |
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| 測量方法 | 相位分析光散射(PALS)
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| 測量角度 | 11°
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| Zeta 電位范圍 | 無實際限制
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| 電泳遷移率范圍 | >±20μ·cm/V·s
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| 最大電導率 | 270mS/cm
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| 適合測量的粒徑范圍 | 3nm~120μm*
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| 分子量 |
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| 測量方法 | -----------
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| 分子量范圍 |
| 粘度 |
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| 粘度范圍 | 0.01cp-100cp*
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| 趨勢 |
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| 趨勢類型 | 溫度和時間
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| 系統(tǒng) |
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| 激光器 | 532nm高性能固體激光器，5 0mW |
| 透射率 | 0%-100%連續(xù)調整 |
| 檢測器 | 高靈敏度PMT或APD* |
| 相關器 | 最小采樣時間25ns，動態(tài)范圍大于10 |
| 溫度控制范圍和精度 | -10°C*~120°C*，±0.1°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或氮氣吹掃 |
| 工作環(huán)境 | 溫度+10°C~+35°C，相對濕度35%~80%，無冷凝 |
| 計算機接口 | USB2.0或以上
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| 電源 | AC100V~240V，50/60Hz，最大功率120W |
| 尺寸和重量 | 580mm×365mm×195mm，16kg |
| 計算機操作系統(tǒng) | Windows 10/11 32/64位操作系統(tǒng) |
| 法規(guī)軟件 | 符合FDA 21 CFR Part 11的要求，用戶可靈活設置使用權限 |
| 軟件語言 | 中文和英文 |
2、可選配件指標
可選配件
| 微量樣品池 |
| APD |
| 毛細管超微量樣品池 |
| 插入式平板電極 |
| 濾光片 |
| 偏振片 |
| 滴定儀 |
| 法規(guī)軟件 |
| 微流變軟件 |
