X射線晶體定向儀
X射線晶體定向儀，針對客戶測量大直徑、長尺寸硅棒而設計。此儀器為雙工作位，一側用于測3-8英寸晶片111、100面，還可測晶棒參考面110。另一側用于測直徑3--8英寸，長800mm晶棒111、100面。
兩邊測角儀用戶可根據本公司樣品規(guī)格形狀，選配不同的
| 產品標題 | X射線晶體定向儀 | |||||||||||||||||||||||||||||
| 型號 | zc41967 | |||||||||||||||||||||||||||||
| 圖片 | ||||||||||||||||||||||||||||||
| 簡介 | X射線晶體定向儀 X射線晶體定向儀，針對客戶測量大直徑、長尺寸硅棒而設計。此儀器為雙工作位，一側用于測3-8英寸晶片111、100面，還可測晶棒參考面110。另一側用于測直徑3--8英寸，長800mm晶棒111、100面。 兩邊測角儀用戶可根據本公司樣品規(guī)格形狀，選配不同的測角臺，G系列測角儀。
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