傳統(tǒng)氣相色譜檢測器很難勝任氣體中痕量物質(zhì)分析的工作，島津公司全新開發(fā)的高靈敏度氣相色譜系統(tǒng)Tracera，融合了專為毛細(xì)管型氣相色譜儀GC-2010 Plus精心設(shè)計(jì)的BID檢測器（介質(zhì)阻擋放電等離子體檢測器）技術(shù)，在此方面展示了強(qiáng)大的分析優(yōu)勢，完*夠滿足痕量物質(zhì)分析的需求。

• 控制溫度范圍:

  室溫+4℃ ～ 450℃

• 升溫速度:

  250℃/min

• 冷卻速度:

  450-50℃，小于3.4min

• 載氣流量范圍及控制:

  0-1250mL/min

• 載氣壓力范圍及控制:

  0-1035kPa

• 進(jìn)樣口zui高使用溫度:

  450℃

• 進(jìn)樣口壓力設(shè)定范圍:

  0-1035kPa

• 進(jìn)樣口總流量設(shè)定范圍:

  0-1250mL/min

傳統(tǒng)氣相色譜檢測器很難勝任氣體中痕量物質(zhì)分析的工作，島津公司全新開發(fā)的高靈敏度氣相色譜系統(tǒng)Tracera，融合了專為毛細(xì)管型氣相色譜儀GC-2010 Plus精心設(shè)計(jì)的BID檢測器（介質(zhì)阻擋放電等離子體檢測器）技術(shù)，在此方面展示了強(qiáng)大的分析優(yōu)勢，完*夠滿足痕量物質(zhì)分析的需求。

高靈敏度

比TCD的靈敏度高100倍以上，比FID的靈敏度高2倍以上

高通用性

單一檢測器*復(fù)雜分析要求

高穩(wěn)定性

介質(zhì)阻擋放電等離子體生成技術(shù)保證儀器*穩(wěn)定性

新型等離子體技術(shù)滿足痕量分析的要求

新型BID檢測器（介質(zhì)阻擋放電等離子體檢測器）主要通過介質(zhì)阻擋放電產(chǎn)生的氦等離子體進(jìn)行電離（離子化），是一種靈敏度*的通用型檢測器。在較低溫度下，通過在石英玻璃管上加高電壓，產(chǎn)生具有*光子能量（17.7eV）的氦等離子體。 色譜柱流出的組分在氦等離子體的能量轟擊下離子化，收集極檢測離子信號(hào)，輸出色譜峰。

BID檢測器是島津公司與日本大阪大學(xué)工程學(xué)研究生院原子和分子技術(shù)中心Katsuhisa Kitano博士的合作研究成果，目前已獲得3項(xiàng)美國，4項(xiàng)待審批。

應(yīng)用對比

創(chuàng)新點(diǎn)

上市時(shí)間：2013年2月
島津公司全新開發(fā)的氣相色譜系統(tǒng)Tracera，融合了專為毛細(xì)管柱型氣相色譜儀GC-2010 Plus精心設(shè)計(jì)的BID檢測器（介質(zhì)阻擋放電等離子體檢測器），可同時(shí)分析無機(jī)氣體和有機(jī)氣體，也可分析液體樣品，且靈敏度高于FID和TCD，對于以往需要同時(shí)使用FID和TCD的復(fù)雜分析而言，單獨(dú)BID檢測器就可以滿足要求。介質(zhì)阻擋放電等離子體生成技術(shù)可以保證儀器*分析穩(wěn)定性。