多模式原子力顯微鏡基本工作模式：接觸模式、輕敲模式、F-Z力曲線測量、RMS-Z曲線測量

技術參數(shù)

◆ 基本工作模式：接觸模式、輕敲模式、F-Z力曲線測量、RMS-Z曲線測量
◆ 選配工作模式：摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力和靜電力
◆ 樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
◆ 掃描范圍：XY向20um，Z向2um（可選配XY向10um，Z向1um）
◆ 掃描分辨率：XY向0.2nm，Z向0.05nm
◆ 樣品移動范圍：0~13mm
◆ 光學放大倍數(shù)4X，光學分辨率2.5um
◆ 掃描速率0.6Hz~4.34Hz，掃描角度0~360°
◆ 掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
◆ 數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
◆ 反饋方式：DSP數(shù)字反饋
◆ 反饋采樣速率：64.0KHz
◆ 通信接口：USB2.0/3.0
◆ 運行環(huán)境：WindowsXP/7/8/10操作系統(tǒng)

       應用范圍