Delphi熒光掃描電鏡，Delphi (德飛)，是荷蘭掃描電子顯微鏡制造商 Phenom-World 公司與荷蘭熒光顯微鏡制造商 Delmic 于 2014 年聯(lián)合推出的將熒光顯微鏡和掃描電鏡高度集成在一起的設(shè)備;
Delphi德飛面向廣大生物工作者，通過熒光快速定位，電鏡高倍觀察，并在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像，實(shí)現(xiàn)在一張圖像中同時(shí)獲得樣品精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)信息，是生物圖像高效的解決方案;
Delphi熒光掃描電鏡，臺(tái)式熒光電鏡一體機(jī)
Delphi熒光掃描電鏡 Delphi (德飛)，是荷蘭掃描電子顯微鏡制造商 Phenom-World 公司與荷蘭熒光顯微鏡制造商 Delmic 于 2014 年聯(lián)合推出的將熒光顯微鏡和掃描電鏡高度集成在一起的設(shè)備;
功能簡(jiǎn)介:德飛面向廣大生物工作者，通過熒光快速定位，電鏡高倍觀察，并在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像，實(shí)現(xiàn)在一張圖像中同時(shí)獲得樣品精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)信息，是生物圖像高效的解決方案;
高效、簡(jiǎn)單:德飛具有占地小，操作簡(jiǎn)便，圖像自動(dòng)重疊，軟硬件高度整合等優(yōu)點(diǎn)，是連接熒光和掃描電鏡的橋梁;
自動(dòng)精準(zhǔn)定位:飛納熒光掃描電鏡一體機(jī) Delphi (德飛) 使用無縫切換技術(shù)，無需人工干預(yù)就能得到精度高達(dá) 200nm 的熒光和電子疊加照片;
電鏡不能感知熒光信號(hào)，光電關(guān)聯(lián)技術(shù)（CLEM）的難點(diǎn)在于樣品觀察點(diǎn)的定位，德飛（Delphi）使用圖像無縫切換技術(shù)，兩種光路對(duì)同一視野原位成像，成功解決了這個(gè)難題。德飛（Delphi）的電子束自動(dòng)校準(zhǔn)技術(shù)，無需人工干預(yù)就能得到精度高達(dá)50nm 的熒光和電子疊加照片，既節(jié)約了用戶的時(shí)間，又確保疊加圖像的可信度。
Delphi熒光掃描電鏡參數(shù)：
電鏡分辨率:優(yōu)于 14 nm
電子放大:gao到 130,000 倍
探測(cè)器:四分割背散射電子探測(cè)器
燈絲材料:1,500 小時(shí) CeB6 燈絲
加速電壓:5 kV-10 kV連續(xù)可調(diào)
熒光分辨率:290 nm（在 550 nm 發(fā)射波長(zhǎng)下）
熒光物鏡:平場(chǎng)復(fù)消色差物鏡 40X (NA0.95)
濾光片:DAPI, FITC, TRITC, Cy5 或者其他的
熒光彩色CCD相機(jī):2,048X2,048 像素,像素尺寸 6.5 um
熒光光源:四通道 (LED) 激勵(lì)源,激發(fā)在 392/474/554/635 nm
重合精度:200 nm
載物臺(tái):全自動(dòng)馬達(dá)載物臺(tái)
抽真空時(shí)間:小于 60 秒
光學(xué)導(dǎo)航顯微鏡:放大 20-120 倍
功率:700 W
飛納的歷史：
1997 年，F(xiàn)EI 和飛利浦電子光學(xué)宣布合并其業(yè)務(wù)，其產(chǎn)品代表全*的電鏡技術(shù)。
2006 年，F(xiàn)EI 成立Phenom-World公司，發(fā)布第yi臺(tái)飛納臺(tái)式掃描電鏡（PhenomDesktop SEM)， 放大倍數(shù)10,000 倍， *使用高亮度 CeB6 燈絲。
2 0 1 2 年 3 月， K a r e lvander Mast 教授帶領(lǐng)原飛利浦電鏡部門精英研發(fā)出世界*電鏡能譜一體機(jī)，開創(chuàng)電鏡能譜設(shè)計(jì)新理念，兩年銷量 790 臺(tái)；同時(shí)推出粗糙度測(cè)量等功能性軟件。
2014 年 9 月，Phenom-World 推出新產(chǎn)品 Phenom XL， 樣品尺寸100*100 mm，可選配二次電子，同時(shí)推出孔徑測(cè)量統(tǒng)計(jì)系統(tǒng)。
2015 年，Phenom-World推出第 4 代產(chǎn)品，分辨率達(dá)到 14 納米，放大 13 萬倍；同年，Phenom-World 推出了世界*熒光電鏡一體機(jī) Dephi，首將關(guān)聯(lián)電鏡技術(shù)發(fā)展成為臺(tái)式設(shè)計(jì)。
2017 年，Phenom-World推出 Phenom Pro-2017，分辨率達(dá)到 7 納米， 放大15 萬倍。同時(shí)發(fā)布可用于Phenom XL 全自動(dòng)顯微平臺(tái)的 U 中心樣品臺(tái)（Eucentricstage) 和 1000N 拉伸臺(tái)(Tensile stage) 。
飛納：數(shù)秒之內(nèi)，遍覽微觀世界
快捷，出眾，可靠的電鏡成像分析設(shè)備臺(tái)式掃描電子顯微鏡設(shè)計(jì)，創(chuàng)新型用戶使用界面，直觀的觸控設(shè)置提供在諸多領(lǐng)域中要求的高分辨率以及高質(zhì)量分析成像。高性價(jià)比、操作簡(jiǎn)便、快速成像的飛納臺(tái)式掃描電鏡成為工程師，技術(shù)員，研究員以及科教專家觀測(cè)微米以及納米結(jié)構(gòu)的青睞
?gao放大15 萬倍，分辨率優(yōu)于7 nm
?長(zhǎng)壽命(1,500 小時(shí))/ 高亮度/ 低色差CeB6 燈絲
?表面細(xì)節(jié)豐富的高質(zhì)量圖片
?內(nèi)置彩色光學(xué)顯微鏡
?自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)，光學(xué)與低倍電子雙重導(dǎo)航
?15 秒快速抽真空，操作簡(jiǎn)單
?防震設(shè)計(jì)，對(duì)放置環(huán)境無特殊要求
?樣品倉低真空技術(shù)，直接觀測(cè)絕緣體，無需噴金
飛納電鏡共有特點(diǎn)：
■ 分辨率高的臺(tái)式掃描電鏡--飛納使用CeB6 燈絲：CeB6 燈絲鎢燈絲成像效果高質(zhì)量、大景深圖片（復(fù)旦大學(xué)ZnO） 150,000 倍圖像相同參數(shù)下CeB6 成像效果CeB6 燈絲的信號(hào)是鎢燈絲的10 倍，信號(hào)更多，色差更低。
■ 使用CeB6 燈絲的電鏡，成像和能譜的分辨率均優(yōu)于同類鎢燈絲電鏡10nm@10kV（背散射電子探測(cè)器）；7nm@10kV（二次電子探測(cè)器）使用CeB6 燈絲，低加速電壓成像優(yōu)勢(shì)明顯，圖像細(xì)節(jié)豐富：飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM) 使用高亮度的CeB6 燈絲，工作溫度低，電子逸出功小，束斑直徑小，能在 5KV 低加速電壓下穩(wěn)定成像，在保證圖像分辨率的前提下，減輕高加速電壓帶給圖像的穿透效應(yīng)，同時(shí)減少電子束對(duì)樣品表面的損傷。
■ 使用CeB6 燈絲，1,500 小時(shí)壽命，2-3 年更換一根燈絲，后期維護(hù)簡(jiǎn)單
■ 高靈敏度四分割背散射電子，形貌& 成分兩種成像模式（飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom DesktopSEM) 采用四分割背散射電子探測(cè)器，給出樣品成分和形貌信息，為您提供兩種成像模式，飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom DesktopSEM，可以快速的在兩種成像模式間任意切換。）
成份模式（Full mode）:同時(shí)給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其對(duì)比度的不同加以分辨。
形貌模式（Topographical mode）: 在圖像中去除了成份不同所造成的差異，強(qiáng)化樣品的3D 信息，使樣品表面的凹凸起伏等微觀結(jié)構(gòu)更加明晰。尤其適用于表面粗糙度和缺陷分析。
■ 高效 + 簡(jiǎn)便的掃描電鏡
■ 一步制樣，快速成像，實(shí)現(xiàn)課題組或者工廠批量測(cè)試目標(biāo)（ 15 秒快速抽真空）
■ 不噴金，直接觀察絕緣體：飛納臺(tái)式掃描電鏡（PhenomDesktop SEM) 采用低真空技術(shù)，背散射電子成像，可以有效抑制荷電效應(yīng)的產(chǎn)生，使得直接觀測(cè)各種不導(dǎo)電樣品，樣品無需噴金噴碳。利用降低荷電效應(yīng)樣品杯，更可將起始荷電的放大倍數(shù)提高8 倍左右。
■ 內(nèi)置高精度自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)，輕松移動(dòng)樣品觀測(cè)區(qū)域：飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）*的光學(xué)/ 低倍SEM 導(dǎo)航功能，為您全程提供全部/ 局部待測(cè)樣品的導(dǎo)航圖像，點(diǎn)擊您感興趣的區(qū)域即可準(zhǔn)確移動(dòng)樣品，不必再頻繁縮小、放大圖像，方便您在不同樣品、同一樣品不同區(qū)域之間切換，輕松實(shí)現(xiàn)想看哪里點(diǎn)哪里。
■ 飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）分為光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡，通過光學(xué)顯微鏡會(huì)生成光學(xué)導(dǎo)航界面，提供樣品全景導(dǎo)航，同時(shí)結(jié)合自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)快速移動(dòng)樣品功能，實(shí)現(xiàn)為用戶提供樣品全程導(dǎo)航。
■ 飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）結(jié)合控制旋鈕和高性能顯示屏調(diào)節(jié)SEM 圖像，輕松點(diǎn)擊您想觀測(cè)的區(qū)域即可快速定位利用控制旋鈕和鼠標(biāo)點(diǎn)擊您可完成以下操作：
自動(dòng)/ 手動(dòng)聚焦
自動(dòng)/ 手動(dòng)亮度對(duì)比度調(diào)節(jié)
自動(dòng)/ 手動(dòng)燈絲對(duì)中調(diào)節(jié)
自動(dòng)樣品移動(dòng)
■ 光學(xué)與低倍電子雙重導(dǎo)航，準(zhǔn)確定位觀測(cè)區(qū)域：飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom DesktopSEM）操作界面。通過點(diǎn)擊右側(cè)圖標(biāo)可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對(duì)比度調(diào)節(jié)、旋轉(zhuǎn)等操作。界面右側(cè)顯示光學(xué)導(dǎo)航和低倍SEM 導(dǎo)航窗口，方便用戶在不同樣品、不同區(qū)域間進(jìn)行切換。飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）*的光學(xué)導(dǎo)航和低倍SEM 導(dǎo)航窗口，導(dǎo)航窗口中的彩色矩形框指示了主窗口中的觀測(cè)區(qū)域。
■ 專業(yè)的防震技術(shù)（安裝簡(jiǎn)單，不受外界環(huán)境干擾）：您可以根據(jù)需要來放置飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM），如高層實(shí)驗(yàn)室、辦公室，或與其他設(shè)備放在一起，如廠房、車間，甚至一輛車上。同時(shí)飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）專業(yè)的防震技術(shù)，可進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)取樣觀察。
■ 可靠、方便的維護(hù)：*的遠(yuǎn)程聯(lián)網(wǎng)檢測(cè)，原廠工程師與您一起維護(hù)電鏡，實(shí)時(shí)確認(rèn)故障原因，迅速準(zhǔn)備配件。荷蘭 Phenom-World 公司的售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)可通過互聯(lián)網(wǎng)檢測(cè)用戶電鏡的使用狀態(tài)，與用戶一起維護(hù)電鏡，確保電鏡總是處于良好狀態(tài)。
■ 適用于不同領(lǐng)域的載樣樣品杯：溫度控制樣品杯（冷臺(tái)+ 熱臺(tái)）（選配）：飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM) 樣品杯和低真空設(shè)計(jì)，耗時(shí)僅為傳統(tǒng)電鏡的1/10，*提高工作效率。自動(dòng)控溫，適用于生物、有機(jī)等樣品，使樣品減少水分的蒸發(fā)，得以保持原貌，并且減少電子束對(duì)樣品的損傷，延長(zhǎng)觀看時(shí)間。
大樣品尺寸：直徑25mm；高5mm
控溫范圍：-25℃～ +50℃
自動(dòng)傾斜/ 旋轉(zhuǎn)樣品杯（選配）：內(nèi)置微型馬達(dá)，計(jì)算機(jī)控制傾斜、旋轉(zhuǎn)角度，為您呈現(xiàn)樣品的隱藏特征，展現(xiàn)3D 圖像效果。
大樣品尺寸：直徑12 mm；高度5 mm
傾斜角度：-10° ~+45°
旋轉(zhuǎn)角度：360°連續(xù)
適用于不同領(lǐng)域的樣品杯
標(biāo)準(zhǔn)樣品杯
適用于高分辨率成像，可用于觀測(cè)粉末，薄膜，及各種
不規(guī)則形狀的三維樣品。
大樣品尺寸：直徑25 mm；高30 mm
降低荷電效應(yīng)樣品杯（選配）
無需噴金，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品，從而獲得
樣品的原始形貌和成份信息。
大樣品尺寸：直徑25 mm；高30 mm
超大樣品臺(tái)（標(biāo)配，僅適用于 Phenom XL）
Phenom XL 電鏡腔室由原來的直徑32 mm 擴(kuò)容為100
mm x 100 mm，一次可容納至少36 個(gè)1/2 英寸樣品臺(tái)
大樣品尺寸：長(zhǎng)100 mm；寬100mm ；
高度： 40 mm
標(biāo)準(zhǔn)/ 降低荷電效應(yīng)金相樣品杯（選配）
在顯微圖像觀測(cè)中，獲得表面平滑的樣品的常規(guī)辦法是鑲嵌和拋光等技術(shù)。金相樣品杯可用于觀測(cè)鑲嵌在樹脂等材料中的樣品。
大樣品尺寸：直徑32 mm；高30 mm
微型電子器件插件（選配）
用特制夾具將微型電子器件無損的固定在樣品杯中。測(cè)試后，樣品可以重新回到制備環(huán)節(jié)中去，無損耗。
配套金相樣品杯使用
X- 斷面觀測(cè)插件（選配）
適合于涂層以及多層半導(dǎo)體器件等斷口、斷面的觀測(cè)，且不需要螺絲等其它工具來固定樣品。
配套金相樣品杯使用
豐富的拓展功能：Phenom ProSuite 應(yīng)用模塊
Phenom ProSuite 是專為飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM) 設(shè)計(jì)的應(yīng)用模塊，其開發(fā)目的是使用戶可以從飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）的SEM 圖像中提取更多信息，拓展飛納臺(tái)式掃描電鏡（PhenomDesktop SEM）的應(yīng)用，滿足特定的用戶需求。
超大視野圖像拼合
應(yīng)用超大視野圖像拼合模塊可以得到大范圍的高分辨圖像。用戶只需在總覽圖中定義掃描區(qū)域，該模塊將自動(dòng)開始以的分辨率對(duì)該區(qū)域進(jìn)行掃描。所得圖像將拼合成一副全景圖像加以保存，方便進(jìn)行進(jìn)一步的觀測(cè)。
主要特點(diǎn)：
大８.07mm 的超大視野（FOV），完整呈現(xiàn)樣品全貌
自動(dòng)采集圖像，每分鐘可采集超過100 張1,024 x 1,024
分辨率的圖像
可與纖維系統(tǒng)聯(lián)用
高達(dá)1 億像素的超高分辨率
簡(jiǎn)明的單頁用戶界面，操作簡(jiǎn)便
孔徑分析測(cè)量系統(tǒng)（選配）
孔洞分析（PoroMetric）軟件可以搜集孔的分布數(shù)據(jù)，提供全自動(dòng)的孔徑、形狀、尺寸、數(shù)量和分布分析；測(cè)量數(shù)據(jù)、柱狀圖和生成的圖片可以根據(jù)選擇的格式輸出在報(bào)告里。利用飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）和孔洞分析（PoroMetric）軟件，孔洞的可視化分析將更加簡(jiǎn)單。
適用領(lǐng)域：過濾/ 篩網(wǎng)行業(yè)、泡沫行業(yè)、陶瓷行業(yè)、制藥行業(yè)、無紡布行業(yè)等；
孔洞測(cè)量系統(tǒng)的功能
1. 進(jìn)行孔洞分析
孔洞尺寸范圍：100nm~0.1mm
孔洞檢測(cè)速度：高達(dá) 1,000 個(gè)/ 分鐘
孔洞測(cè)量屬性：尺寸、形狀、數(shù)量
2. 可以測(cè)量的孔洞參數(shù)
面積、當(dāng)量圓直徑、長(zhǎng)寬比
長(zhǎng)軸長(zhǎng)度和短軸長(zhǎng)度（橢圓）
3. 提供的圖形/ 數(shù)據(jù)顯示
按當(dāng)量直徑的柱狀圖
所有孔洞的各項(xiàng)參數(shù)值
所有孔洞的平均參數(shù)值
4. 提供的圖形輸出
Word 版本 docx 格式的報(bào)告
TIFF 格式的圖像
CSV 文件
離線分析的項(xiàng)目文件（.POME）
顆粒測(cè)量系統(tǒng)（選配）
顆粒測(cè)量系統(tǒng)（ParticleMetric）是一款基于飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）的顆粒分析系統(tǒng)，用于實(shí)現(xiàn)顆
粒可視化分析，由Phenom-World 公司歷經(jīng)3 年研發(fā)，于2013 年11 月1 日在荷蘭發(fā)布。
顆粒測(cè)量系統(tǒng)的功能
1. 進(jìn)行顆粒分析
顆粒尺寸范圍：100nm~0.1mm
顆粒探測(cè)速度：高達(dá) 1,000 個(gè)/ 分鐘
顆粒測(cè)量屬性：大小、形狀、數(shù)量
2. 可以測(cè)量的顆粒參數(shù)
面積、當(dāng)量直徑、外接圓直徑、表面積、周長(zhǎng)、寬高比
充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸長(zhǎng)度和短軸長(zhǎng)度（橢圓）
凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗?br />3. 提供的圖形顯示
按數(shù)量或體積的線性、對(duì)數(shù)、雙對(duì)數(shù)點(diǎn)狀圖
任何參數(shù)的散點(diǎn)圖
單個(gè)顆粒的 SEM 圖像
4. 提供的圖形輸出
Word 版本 docx 格式的報(bào)告，TIFF 格式的圖像CSV 文件，離線分析的項(xiàng)目文件（.PAME）
配合高倍拼圖軟件，可實(shí)現(xiàn)全樣品顆粒分析
顆粒分析系統(tǒng)界面
適用領(lǐng)域：化妝品、食品、化工、制藥、陶瓷等行業(yè)；顆粒以及表面涂層；顆粒狀添加劑；環(huán)境顆粒；過濾/ 篩網(wǎng)等
顆粒系統(tǒng)可根據(jù)實(shí)際需要生成“散點(diǎn)統(tǒng)計(jì)圖”或“柱狀統(tǒng)計(jì)圖”。同時(shí)能夠給出每個(gè)顆粒的所有參數(shù)，也能給出所有顆粒的各項(xiàng)平均、中位參數(shù)值。
顆粒分散設(shè)備
用 Nebula Ⅰ 可以在 SEM 樣品臺(tái)上實(shí)現(xiàn)干粉均勻分散，可以獲取單層顆粒，同時(shí)避免顆粒的團(tuán)聚，保持顆粒的結(jié)構(gòu)完整，為用戶提供制樣方法，獲得更好的顆粒分析結(jié)果。
Nebula Ⅰ 參數(shù)
粉末尺寸范圍：0.1~1,500 μm
分散真空度范圍：0~0.8 Bar
壓力設(shè)置精度：0.05 Bar
3D 粗糙度重建（選配） 經(jīng)典軟件
3D 粗糙度重建模塊（3D Roughness Reconstruction）是飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM) *的強(qiáng)大圖像處理工具。借助3D 粗糙度重建模塊，飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom Desktop SEM）可以產(chǎn)生樣品的3D 還原圖，對(duì)其進(jìn)行任意旋轉(zhuǎn)，并進(jìn)行亞微米量級(jí)的粗糙度測(cè)量。
主要技術(shù)參數(shù)：
1. 自動(dòng)實(shí)時(shí)創(chuàng)建3D 圖像
全 3D 圖像
2D 或 3D 圖像，通過顏色指示高度
過濾后的 3D 圖像
2. 自動(dòng)粗糙度測(cè)量
Ra（平均粗糙度）和 Rz（粗糙高度）
用戶設(shè)定波紋過濾
支持 5 線同時(shí)測(cè)量
支持面粗糙度測(cè)量
3. 自動(dòng)生成統(tǒng)計(jì)信息CSV 文件
4. 觀測(cè)視野 (FOV) 10μm ～ 2mm
纖維系統(tǒng)（選配） 經(jīng)典軟件
纖維系統(tǒng)（FiberMetric）可以測(cè)量從納米到亞微米量級(jí)的纖維，數(shù)秒之內(nèi)采集數(shù)百纖維的直徑信息，每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)均經(jīng)過50 次測(cè)量取平均值。根據(jù)統(tǒng)計(jì)信息自動(dòng)生成纖維直徑分布柱狀圖，并導(dǎo)出數(shù)據(jù)文件。
應(yīng)用領(lǐng)域： 過濾、紡織、纖維、造紙、煙草、光纖等研究領(lǐng)域
纖維系統(tǒng)主要特點(diǎn)：
自動(dòng)測(cè)量，節(jié)省時(shí)間
自動(dòng)生成統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
與飛納電鏡同步，實(shí)時(shí)測(cè)量
輸出：
xml 數(shù)據(jù)文件（包括直徑測(cè)量和孔徑測(cè)量）
JPEG、TIFF 格式圖片
大 2,048 x 2,048 圖像分辨率
纖維尺寸分布統(tǒng)計(jì)圖
小、大及平均纖維尺寸
