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HAD-WSP-51 方塊電阻/電阻率四探針測(cè)試儀/便攜式四探針檢測(cè)儀 *
面議5704簡(jiǎn)介：HAD-WSP-51數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱(chēng)方塊電阻）。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的...
北京恒奧德科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢(xún)價(jià) -
HA/RTS-5 雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀
面議5704簡(jiǎn)介：HA/RTS-5型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合(亦稱(chēng)雙位組合)測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除...
北京恒奧德科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢(xún)價(jià) -
TH2661型手持式四探針測(cè)試儀
面議2928簡(jiǎn)介：TH2661型四探針測(cè)試儀，可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽(yáng)能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量，USB接口可為用戶(hù)提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)...
深圳市卓越儀器儀表有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：深圳市我要詢(xún)價(jià) -
DL10-1934B 數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì) 四探針測(cè)試計(jì) 半導(dǎo)體四探針檢測(cè)儀
面議1594簡(jiǎn)介：測(cè)量范圍電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω
北京北信未來(lái)電子科技中心 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢(xún)價(jià) -
DL10-STZ-4 簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀 數(shù)字式四探針測(cè)試儀 四探針電阻測(cè)量?jī)x
面議1594簡(jiǎn)介：數(shù)字式四探針測(cè)試儀，是二量程的電阻測(cè)量?jī)x器，配以手持式測(cè)試頭或座式測(cè)試架，可用來(lái)測(cè)量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。(客戶(hù)根據(jù)不同的要求可以選擇不同的量程，...
北京北信未來(lái)電子科技中心 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢(xún)價(jià) -
DL10-SZT-2A 四探針測(cè)試儀 四探針測(cè)量?jī)x 四探針?lè)治鰞x 帶電腦接口
面議1594簡(jiǎn)介：主機(jī)采用的*電路設(shè)計(jì)，所測(cè)數(shù)值更精、更快、更準(zhǔn)（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點(diǎn)：體積大，速度慢，元器件繁多導(dǎo)致影響機(jī)器壽命）。
北京北信未來(lái)電子科技中心 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢(xún)價(jià) -
HHY8-SZT-2000 數(shù)字式四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/數(shù)字式四探針檢測(cè)儀
面議5704簡(jiǎn)介：HHY8-SZT-2000型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是根據(jù)四探針測(cè)試原理研究成功的多用途的綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量棒狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻進(jìn)行測(cè)量，可以從10-6--105Ω...
北京恒奧德科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢(xún)價(jià)