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簡介：SunScan專業(yè)版冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan冠層分析...

簡介：HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平...

簡介：葉面積指數(shù)（LAI）是在生態(tài)學(xué)與氣候?qū)W中是重要的生物物理參數(shù)，在生態(tài)學(xué)及氣候?qū)W領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。TRACPLUS植物冠層分析儀采用*的創(chuàng)新技術(shù)，在冠層下方沿著橫斷面測定光合有效輻射分量，然后將...

簡介：進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400-帶700nm寬內(nèi)的光合有效輻射（PAR）自動或手動測量、記錄,測量值的單位是平方米...

簡介：能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等。

簡介：進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米?秒上...

簡介：可快速測定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。

簡介：FS-PAR作物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的...

簡介：FS-2000植物冠層分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過專用分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。

簡介：任何物質(zhì)都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性，這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長輻射的吸收、發(fā)送或反射，物質(zhì)的特性就能被確定。在實際應(yīng)用時，僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質(zhì)的特性。