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分析優(yōu)勢:
• 快速分析 F到U之間的元素
• 靈敏度從 <1 ppm -100%
• 多元素的測量時間10-60秒
• 多達(dá)8種的設(shè)置條件同時選擇，應(yīng)用于各種樣品的多元素分析
• 通過 CCD 照相機(jī)顯示樣品影像
• 可調(diào)的X射線光斑直徑1- 15 mm，以便適應(yīng)不同樣品大小
• *的電制冷Si(Li)檢測器技術(shù)和數(shù)字脈沖處理器技術(shù)
• Wintrace 多元化的 XRF 應(yīng)用軟件，多個報(bào)告輸出選項(xiàng)
• 高級無標(biāo)樣 厚度和涂層分析
• 專有的UniQuant 無標(biāo)樣分析技術(shù)
• 機(jī)械持久性，可保證長期的*使用，占地面積小，機(jī)動性好
• 可以為客戶定制應(yīng)用并在線升級， 易于安裝維護(hù)

探測器內(nèi)部的-*技術(shù)
作為一個有著超過40年經(jīng)驗(yàn)的X射線探測器制造商，本公司深入了解并定義了探測器性能的關(guān)鍵參數(shù)。經(jīng)歷了4代探測器的技術(shù)創(chuàng)新，硅鋰Si(Li)探測器成為ARL QUANT´ X 的心臟 ，提供了高靈敏度，速度和可靠性。
• 更低的晶體溫度提供了更佳的分辨率
• 更厚的晶體可獲得更佳的探測性能
• 大的晶體面積可獲得更佳的檢測下限

功能強(qiáng)大、易于使用的 WinTrace*軟件
• 無標(biāo)和半無標(biāo)分析
• 基本參數(shù) (FP) 和基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)方法
• 多層厚度及成分
• 不限元素、不限數(shù)量的標(biāo)樣
• 利用自動化操作實(shí)現(xiàn)多個激發(fā)條件