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測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
射線在穿透一定的物質(zhì)時，其強度的呈指數(shù)規(guī)律衰減，這和半衰期的公式相似，其公式為: I=Ir*EXP (-UX) ，Tr 為初始射線強度，I為穿過物體后的射線強度，U為衰減系數(shù)，X為射線穿過的厚度。
對于不同的材料，其U值是不同的，因此使用射線測量厚度時必須知道被測材料的U值一般而言密度越大的材料其U值就越大，比如鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，相應的射線阻擋能力就越強，因此在核技術(shù)實驗中用作屏障，與之類似的就是鉛玻璃。
測厚儀分為激光測厚儀、X射線測厚儀、紙張測厚儀、薄膜測厚儀、涂層測厚儀、超聲波測厚儀等。
激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，達到要求的軋制厚度。主要應用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。
涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
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