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隨著潤(rùn)滑油污染度檢測(cè)技術(shù)的持續(xù) 發(fā)展，其測(cè)量、計(jì)數(shù)和識(shí)別在用潤(rùn) 滑油低濃度污染物影響的能力得到 不斷提高。鑒于低濃度顆粒被認(rèn)定 是造成機(jī)械磨損的元兇，因此，越來越多的人推薦使用更加干凈的流體，以將磨損維 持在合理水平。使用潤(rùn)滑油時(shí)，顆粒物含量的增加可導(dǎo)致部件失效或潤(rùn)滑油分解。

顆粒計(jì)數(shù)正在成為潤(rùn)滑油狀態(tài)監(jiān)測(cè)和維護(hù)計(jì)劃中使用的一項(xiàng)常規(guī)工具，它有助于更好 地識(shí)別可能導(dǎo)致機(jī)器故障的特定粒徑和濃度顆粒。使用與元素濃度監(jiān)測(cè)類似的方法， 對(duì)在用油品和其它潤(rùn)滑油進(jìn)行粒徑監(jiān)測(cè)。如果關(guān)鍵磨損金屬顆粒數(shù)量或濃度對(duì)應(yīng)的 ISO 代碼（ISO 4406）增加，則說明需要進(jìn)行維護(hù)。

之前研究 1 證明，珀金埃爾默的 Avio® 500 電感耦合等離子體 發(fā)射光譜儀油品系統(tǒng)能夠在高處理量環(huán)境下根據(jù) ASTM 方法 D5185 2 測(cè)量在用油樣。通過添加與 Avio 500 匹配的 LPC 500 ™液體顆粒計(jì)數(shù)器，只需一次運(yùn)行，即可完成油樣和潤(rùn)滑油樣 品磨損金屬和顆粒分析。

本應(yīng)用對(duì)自動(dòng)進(jìn)樣器和 ICP 霧化器之間的在線顆粒計(jì)數(shù)器— ICP 取樣系統(tǒng)進(jìn)行了討論。這種方法能夠在對(duì)稀釋潤(rùn)滑油進(jìn)行 測(cè)量的同時(shí)，避免影響 ICP 分析，從而為顆粒計(jì)數(shù)帶來若干好 處：

高顆粒計(jì)數(shù)樣品處理量

一次運(yùn)行兼顧兩項(xiàng)分析

顆粒數(shù)量再現(xiàn)性

占地面積小，節(jié)省實(shí)驗(yàn)室工作臺(tái)空間

減小顆粒計(jì)數(shù)樣本量

這一切都是通過 Avio 500 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀油品 系統(tǒng)、LPC 500 液體顆粒計(jì)數(shù)器、Te*ledyne CETAC Oils 7400 雙均質(zhì)自動(dòng)進(jìn)樣器和用于油品的 Te*ledyne CETAC Particle Xpress 快速進(jìn)樣系統(tǒng)的組合實(shí)現(xiàn)的。

• 頂空和帶捕集阱自動(dòng)進(jìn)樣器

  檢測(cè)儀器在線詢價(jià)