奧林巴斯工業(yè)激光共焦顯微鏡 LEXT OLS4100 產(chǎn)品簡介
準確的測量
采用了有著高N.A. 的物鏡和光學系統(tǒng)（能zui大限度發(fā)揮405 nm 激光性能），LEXT OLS4100 可以精確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。這有利于粗糙度的測量。
高度分辨率10 nm，輕松測量微小輪廓
由于奧林巴斯工業(yè)激光共焦顯微鏡 LEXT OLS4100采用405 nm 的短波長激光和更高數(shù)值孔徑的物鏡，OLS4100 達到了0.12 μm 的平面分辨率。因此，可以對樣品的表面進行亞微米的測量。結合高精度的0.8 nm 的光柵讀取能力和軟件算法，例如奧林巴斯開創(chuàng)的I-Z 曲線（請參閱第23 頁），OLS4100 可以分辨出10 nm 的高度差。
克服反射率的差異
LEXT OLS4100 全新的多層模式則可以識別多層樣品各層上反射光強度的峰值區(qū)域，并將各層設為焦點，這樣即可實現(xiàn)對透明樣品上表面的觀察和測量，而且也可以對多層樣品的各層進行分析和厚度測量。
多層模式
LEXT OLS4100 全新的多層模式則可以識別多層樣品各層上反射光強度的峰值區(qū)域，并將各層設為焦點，這樣即可實現(xiàn)對透明樣品上表面的觀察和測量，而且也可以對多層樣品的各層進行分析和厚度測量。
觀察／測量透明材料的各個層
多層模式可實現(xiàn)對透明樣品的頂部的透明層進行觀察和測量。即使在玻璃基片上覆有一層透明樹脂層，也可測量出各層的形狀和粗糙度以及表面覆膜的厚度。
正確性和重復性
通常表示測量儀器的測量精度的，有2 個指標："正確性"，即測量值與真正值的接近程度，和"重復性"，即多次測量值的偏差程度。OLS4100 是業(yè)界*同時保證了"正確性"和"重復性"的激光掃描顯微鏡。
追溯體系
儀器從物鏡制造到成品全部在奧林巴斯工廠內(nèi)完成，并按照一系列嚴格的標準進行全面的檢驗并確保產(chǎn)品的質(zhì)量后方才出廠 。交付產(chǎn)品時，由選拔出來的技術人員，在實際使用環(huán)境中執(zhí)行校正和zui后的調(diào)整。
工作流程解決方案，實現(xiàn)了完整的圖像分析性能
對于粒子尺寸分析或非金屬夾雜物級別的測量，可以使用OLYMPUS Stream 顯微圖像軟件，該軟件可以從OLS4100 直接上傳。
更精準的粗糙度測量
作為表面粗糙度測量的新標準，奧林巴斯開發(fā)了LEXT OLS4100。對LEXT OLS4100 進行了與接觸式表面粗糙度測量儀同樣的校正，并在LEXT OLS4100 上配置了幾乎所有必要的粗糙度參數(shù)和濾鏡。這樣，對于使用接觸式表面粗糙度測量儀的用戶來說，能得到操作性和互換性良好的輸出結果。另外，還搭載了粗糙度模式，可以用自動拼接功能測量樣品表面直線距離zui長為100 mm 的粗糙度。 OLS4100 具有與接觸式表面粗糙度測量儀相同的表面輪廓參數(shù)，因此具有相互兼容的操作性和測量結果。
