SPA6100國產(chǎn)半導體參數(shù)測試儀iv|cv一鍵測配置有多種不同規(guī)格的SMU，如低壓直流SMU、低壓脈沖SMU、大電流SMU；用戶可根據(jù)測試需求靈活配置不同規(guī)格，以及不同數(shù)量的搭配。

國產(chǎn)半導體參數(shù)測試儀iv|cv一鍵測特點：

30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力；

測量精度高,全量程下可達0.03%精度；

內(nèi)置標準器件測試程序，直接調用測試簡便；

自動實時參數(shù)提取，數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)；

在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線；
提供靈活的夾具定制方案，兼容性強；

免費提供上位機軟件及SCPI指令集；

典型應用：

納米、柔性等材料特性分析；

二極管；

MOSFET、BJT、晶體管、IGBT；

第三代半導體材料/器件；

有機OFET器件；

LED、OLED、光電器件；

半導體電阻式等傳感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管；

電阻率系數(shù)和霍爾效應測量；

太陽能電池；

非易失性存儲設備；

失效分析；