AXIS Nova X光電子能譜儀采用大功率X光源和浸入式磁透鏡設(shè)計(jì)以獲取較高的檢測(cè)靈敏度，同時(shí)采用165mm大平均半徑的雙聚焦半球扇形能量分析器，可以獲得較高的XPS譜線能量分辨。

島津／Kratos X光電子能譜儀AXIS Nova——成像自動(dòng)型，業(yè)界

　　位于英國(guó)曼切斯特的Kratos公司是世界上較早生產(chǎn)商品化X射線光電子能譜儀的廠家之一，現(xiàn)在是世界上較大的分析儀器制造公司——島津公司的全資子公司。自1997年以來(lái)，島津/Kratos公司研發(fā)了包括的磁沉浸透鏡和的低能電子荷電中和系統(tǒng)等一系列新技術(shù)的新型光電子能譜儀——AXIS Ultra，并于2002年底推出了使用二維陣列檢測(cè)器——延遲線檢測(cè)器(Delay-Line Detector)的自動(dòng)型AXIS Nova型XPS譜儀。截至2014年1月底，在世界上已經(jīng)銷售了超過(guò)100臺(tái)AXIS Nova型XPS譜儀，在世界上許多著名的大學(xué)、科研機(jī)構(gòu)和企業(yè)公司中得到了高度的認(rèn)可，在業(yè)界處于穩(wěn)固地位。
 

　　技術(shù)特點(diǎn)：
 

　　AXIS Nova X光電子能譜儀采用大功率X光源和浸入式磁透鏡設(shè)計(jì)以獲取較高的檢測(cè)靈敏度，同時(shí)采用165mm大平均半徑的雙聚焦半球扇形能量分析器，可以獲得較高的XPS譜線能量分辨。在檢測(cè)器端，Axis Ultra DLD采用位于能量分析器出口中心位置上的第二代的二維陣列延遲線檢測(cè)器，可以同時(shí)記錄光電子的信號(hào)強(qiáng)度及其發(fā)射位置，亦可以在數(shù)秒的時(shí)間里獲取完整的XPS譜圖。
 

　　AXIS Nova X光電子能譜儀采用與靜電傳輸透鏡同軸的超低能單電子源荷電中和器，*各類絕緣樣品的XPS分析任務(wù)，尤其是對(duì)于表面凸凹不平的樣品(典型的是粉末樣品和斷口樣品)，可以獲得*的分析結(jié)果。
 

　　Axis Nova使用的與采譜能量分析器同心的球面鏡能量分析器，可以獲得高空間分辨的平行光電子圖像，亦即可以獲得元素的不同化學(xué)狀態(tài)的二維分布。
 

　　Axis Nova采用全自動(dòng)的大樣品臺(tái)設(shè)計(jì)，較大樣品可達(dá)4吋，可以利用進(jìn)樣室的光學(xué)顯微鏡確定分析位置，并在樣品自動(dòng)進(jìn)入分析室以后實(shí)現(xiàn)預(yù)設(shè)位置上的全自動(dòng)XPS分析。