電鍍鍍層光譜分析儀
鍍層檢測：
2.1、常見金屬鍍層有：
鍍層 基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● |
| ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
2.2、單層厚度范圍：
金鍍層0－8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內(nèi)，
可小測量達0.001um。
2.3、多層厚度范圍
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4、鍍層層數(shù)為1-6層
2.5、鍍層精度相對差值一般<5%。
2.6、鍍層成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。
單層分析精度，以Ni舉例：（相對差值）
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
報告打?。?/span>
可以PDF，Excel格式輸出報告，歷史數(shù)據(jù)查詢方便
安全使用,維護與保養(yǎng)
6.1、由于儀器非常精密，未經(jīng)允許情況請不要打開儀器外殼，不要對X射線源和探測器進行改變，由于用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負責任。
6.2、儀器安裝一定要平穩(wěn)，儀器后面離墻距離不得小于30厘米，必須使用標準的220V交流電，電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源，插座必須接地良好，由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負責。
6.3、請不要用濕的手觸摸電源部分，帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。
6.4、進行測量時，因為高電壓流至X射線源，儀器運行時，不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運行或者遵循用戶指南中止。
6.5、儀器環(huán)境要求：儀器使用環(huán)境需清潔，溫度適宜15℃－30℃，濕度小于80%,電源：AC: 220V ±5V。
以上細節(jié)均有可能造成無法預測后果，買方應予以基本遵守。
驗收和保證值
儀器的性能指標所引用的術語及定義都是根據(jù)行業(yè)標準， 所有誤差大都被表示成測量厚度的百分比或者絕對差值. 除特別說明外,所有數(shù)據(jù)指標都在西格瑪?shù)目尚艩顟B(tài)下。
性能測試所用的標樣片都是國際標準的標準樣品,在相同的測試點進行測試.這些樣本必須受到保護,以免機械或化學的改變,這些將影響到X射線的測量。
性能測試要求環(huán)境溫度范圍在 15℃-30℃之間。
環(huán)境相對濕度 ≤80％
電 源：AC: 220V ±5V
性能主要測試精度和重復性；不能使測厚儀在測量過程中產(chǎn)生“晃動”
4.1測量精度
1）精度(單層)：
測厚儀的檢測精度表
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
本儀器產(chǎn)品特點：
采用了Si-Pin探測器，性能穩(wěn)定，重復性和重現(xiàn)性好。
在客戶遠端請求下，我司技術人員可以遠程協(xié)助用戶解決常見操作問題（需連接因特網(wǎng)）。
可進行多達5層的多鍍層檢測。
無需象采用了正比計數(shù)器（PC比例器）的儀器那樣，需要標準樣頻繁較準。
全自動操作平臺，可以連續(xù)多點檢測，省時省力。
操作簡單，界面友好，數(shù)據(jù)直觀顯示。
雙重聯(lián)動屏蔽裝置，做到了X射線零輻射，讓使用者更安全
電鍍鍍層光譜分析儀
