ROHS檢測儀誰家的好
X射線螢光光譜分析儀已經被廣泛應用于地質、采礦、金屬、土壤、環(huán)境、考古、木材、電子、醫(yī)藥、環(huán)保、啤酒、電力、石化、玩具、大型工程、鍋爐制造、再生資源金屬、玻璃的回收、刑事證據鑒定等各種不同領域的日常分析。被原子能機構廣泛使用的產品，已多次在伊拉克核查和伊朗核查中發(fā)揮作用。
X射線螢光光譜分析儀，被原子能機構和環(huán)境規(guī)劃暑確認為有效檢的應對有害元素檢測、合金分析、礦石分析、環(huán)境分析的產品，目前正服務于伊朗核查和歐美各大海關等重要部門。
部分客戶
用戶名稱 | 使用地點 | 數量（臺） |
核查小組 | 伊拉克、伊朗 | 16 |
商業(yè)機器公司 | 法國 | 22 |
微軟公司美國總部 | 美國 | 16 |
美泰玩具 | 美國 | 12 |
松下電器有限公司 | 中國 | 52 |
索尼有限公司 | 中國 | 68 |
三 華誼特種油漆廠 | 中國 | 3 |
中國臺灣臺達集團 | 中國 | 130 |
飛利浦有限公司 | 中國 | 42 |
華為技術有限公司 | 中國 | 28 |
RoHS檢測儀特點
1、可裝在支架上做臺式使用，也可拿在手上做現場使用，方便靈活。
2．檢測速度快，只需要幾秒種即可顯示樣品中的有害物質含量，通常45~60秒即可。
3、無需特別制樣，很小的樣品也能測試。
4、度，重復性好。
5、開機無需預熱，無需液氮制冷，運行成本低。
6、合金、聚合物、塑料、混合物、PVC等自動識別材料。無需預先知道材料類型。
7、樣品無特殊要求，液體、固體、粉末、灰漿、過濾物、實核體、碎片、微粒、袋裝皆可。
8、采用工業(yè)級產品設計結構，適應各種不同工作環(huán)境。
9、測試結果清晰顯示，PPM，光譜或波峰強度。
10、可檢測多種材料如合金、聚合物、塑料、混合物等。
11、RoHS檢測儀采用IEC標準，可內建企業(yè)標準。ROHS檢測儀誰家的好
RoHS檢測儀適用法規(guī)
RoHS指令
WEEE指令
EN71-3指令
94/62/EC指令
2006/66/EC指令
EN14582指令
RoHS檢測儀用途及技術規(guī)格
項目 | 各種材料元素檢測 |
重量 | 基本上重量:1.4kg 上電池后:1.6kg（手持式）（臺式重些） |
尺寸 | 300mm x 90mm x 220mm |
激發(fā)源 | 射線管靶材5種可選擇 金（Au）、銀（Ag）、鎢（W）、鉭（Ta），鈀（Pb） |
電壓電流與功率 | 大功率微型X射線管40 KV、100MA、4W |
濾波器 | 六種可選擇的濾波器根據不同的實物自動調節(jié) |
探測器 | 性能分辨率Si-Pin X射線探測器 |
探測器制冷溫度 | Peltier效應半導體制冷,制冷溫度-35℃ |
解析度 | <220 |
電源 | 8小時/2塊鋰電源及交流電源 |
處理器 | Intel 400MHz StrongArm處理器 |
操作系統(tǒng) | Microsoft Windows CE，界面友好、靈活、可升級，中文軟件。 |
兼容性 | 藍牙,GPS，打印 |
軟件模式 | 塑料、合金、混合物等3種模式。 |
數據分析 | 多種分析模式，包括基本參數，Compton歸一化，經驗校準模式，光譜搭配 |
數據顯示 | 集中于ppm與百分比（％）顯示，光譜或峰強度（計數率）或用戶定的單位 |
數據傳輸 | RS232串行電纜，藍牙，SD卡，CF卡，等傳輸方式。文件格式TXT，EXCEL。 |
顯示屏 | 彩色，分辨率TFT工業(yè)級觸摸屏 |
PDA | 數據即時顯現，彩屏、128M標準內存，可升級至4Gb閃存卡、可用SD卡、CF卡。 |
元素分析范圍：鈦（）到鈾（U）之間的所有元素。
1）RoHS/WEEE模式:Cd、Cr、Pb、Hg、Br、Cl、Ca、、V、、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、As、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等30個元素。
2）Halogen Free模式：Br、P、S、Cl、K、Ca、、、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hg、As、Pb、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb等28個元素。
RoHS檢測儀不同元素的檢測下限
元素需要觀察的特征X-射線 |
| 塑料中典型元素含量 |
元素 | 一級射線 | 二級射線 |
| 元素 | (LOD)ppm |
Cd | Kα | |
| Cd | 12ppm |
Pb | Lα | Lβ |
| Pb | 6ppm |
Hg | Lα | |
| Hg | 6ppm |
Cr | Kα | |
| Cr | 8ppm |
Br | Kα | Kβ |
| Br | 5ppm |
Cd、Pb、Hg、Cr在各種基材中受限的篩選限值，單位（mg/kg） |
元素 | 金屬、聚合物材料 | 電子元件 |
Cd | P≤（70－3σ）<X <（130＋3 σ）≤F | LOD≤X <（250＋3σ）≤F |
Pb | P≤（700－3σ）<X <（1300 ＋3σ）≤F | P≤（500－3σ）<X <（1500 ＋3σ）≤F |
Hg | P≤（700－3σ）<X <（1300 ＋3σ）≤F | P≤（500－3σ）<X <（500 ＋3σ）≤F |
Cr | P≤（700－3σ）<X | P≤（500－3σ）<X |
