我們的鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用,可以在無(wú)需樣品制備的情況下提供易于操作，快速和無(wú)損的分析。可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的14Si到92U。

MAXXI 6針對(duì)較薄而復(fù)雜的樣品，具有的解決方案。MAXXI 6配備多準(zhǔn)直器系統(tǒng)及超大樣品艙，是功能性與檢測(cè)精度兼?zhèn)涞睦硐牍ぞ摺?/p>

亮點(diǎn)：

• 采用微聚焦X射線光管，實(shí)現(xiàn)高精度，高可靠性，測(cè)量時(shí)間短，購(gòu)置成本低
• 采用高分辨率的硅漂移探測(cè)器(SDD),提供能量級(jí)別的效率，極低的檢出限（LOD)
• 多準(zhǔn)直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號(hào)產(chǎn)額，提高測(cè)量效率
• 開(kāi)槽式超大樣品艙設(shè)計(jì)，十分適合電路板或其他超大平板樣品
• “USB接口 ”只需通過(guò)USB與計(jì)算機(jī)連接，無(wú)需額外的硬件或軟件
• 德國(guó)制造，符合工程標(biāo)準(zhǔn)，堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期可靠性
• 通過(guò)PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)認(rèn)證，滿足輻射安全標(biāo)準(zhǔn)
• 最多同時(shí)測(cè)定5層，15種元素及共存元素的校正
• 同時(shí)實(shí)現(xiàn)多于25種元素的定量分析
• 檢測(cè)方法通過(guò)ISO3497，ASTM B568，DIN50987和IEC 62321等認(rèn)證
• 對(duì)ROHS和貴金屬進(jìn)行工廠預(yù)裝校準(zhǔn)（可選）