1）搭載微聚焦加強型X射線發(fā)生器和的光路轉換聚焦系統(tǒng)
1）搭載微聚焦加強型X射線發(fā)生器和的光路轉換聚焦系統(tǒng)，最小測量面積達0.03mm2
2）擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm
3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩(wěn)的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測層Ni和第三層Ni的厚度）
4）配備高精密微型移動滑軌，可實現多點位、多樣品的精準位移和同時檢測
5）裝配Si-Pin半導體探測器，分辨率高，測試速度快，數據穩(wěn)定
6）涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）
7）成分分析范圍：硫S(16)- 鈾U（92）
8）RoHS、鹵素有害元素檢測
9）人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
10）標配4準直器自動切換
11）配有微光聚集技術，最近測距光斑擴散度小于10%
XAU-4C是一款一機多用型X熒光光譜儀/環(huán)保檢測儀，匠心打造的新一代設計，是一款科技感的一機多用型光譜儀，采用的EFP算法和微光聚集技術的同時搭配新一代的多道及時序排列，專精型既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測及全元素分析，每一個功能都是的。
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