Nova™ Nano SEM 掃描電鏡供應(yīng)引入了zui低速度新一代的高靈敏可伸縮SE/BSE探測(cè)器和多功能的SE/BSE過濾功能，使感興趣的信息zui低速度*化。智能掃描模式可用于盡可能避免成像假象。

Nova™ Nano SEM 掃描電鏡供應(yīng)特點(diǎn)

• 場(chǎng)發(fā)射 SEM、超穩(wěn)定高電流 Schottky 電子槍。
• *的光學(xué)和探測(cè)技術(shù)，包括沉浸模式、射束減速、透鏡內(nèi) TLD-SE 和 TLD–BSE、DBS和STEM，可實(shí)現(xiàn)*信息選擇和圖像優(yōu)化。
• 低至50V的射束著陸能量。
• 1.4 nm @ 1 kV、無射束減速。
• *真正高分辨率的低真空FESEM： 1.8 nm @ 3 kV 和 30 Pa。
• 高達(dá)200nA的高真空或低真空分析。
• 整合式 16 位掃描/制圖引擎。
• 超潔凈、無油滾動(dòng)和渦輪抽氣真空系統(tǒng)。
• 150 x 150 mm 高精密、高穩(wěn)定壓電樣品臺(tái)（Nova NanoSEM 650）。