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公司名稱 北京科斯儀器有限公司
品牌
型號(hào)
所在地 北京市
廠商性質(zhì) 代理商
更新時(shí)間 2024/12/10 15:00:57
訪問次數(shù) 9

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴。

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超大試樣室掃描電子顯微鏡MIRA(LC-SEM)來自德國的“MIRA超大試樣室掃描電鏡（LC-SEM）”，自從推出后，已在航空、航天及材料科學(xué)中得到了廣泛應(yīng)用

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超大試樣室掃描電子顯微鏡MIRA ( LC-SEM )

來自德國的“MIRA超大試樣室掃描電鏡（LC-SEM）”，自從推出后，已在航空、航天及材料科學(xué)中得到了廣泛應(yīng)用。LC-SEM可以同時(shí)裝備多種探測(cè)設(shè)備（背散射電子成像、EDS、EBSD、FIB、FT-IR）來滿足不同的需求。不僅可以檢查大型零部件的物理特性，還可以評(píng)價(jià)原材料的化學(xué)和結(jié)晶體特性。幾乎對(duì)任何樣本都可實(shí)現(xiàn)非常準(zhǔn)確的，直到在分子層面的一站式檢查和分析。

使用通常掃描電子顯微鏡時(shí)，面臨困難之一是被測(cè)樣品的大小限制，通常情況下，只能對(duì)直徑在數(shù)十到一百毫米內(nèi)小的樣本進(jìn)行研究且只有一兩種關(guān)聯(lián)的分析工具，這限制了這一重要測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用。LC-SEM克服了這一點(diǎn)，其超大真空室和光學(xué)系統(tǒng)擴(kuò)展視圖功能可容納直徑與高度分別達(dá)1.5米，重300kg的樣品，分辨率優(yōu)于10納米，放大倍數(shù)10倍-30萬倍，真空度10-6毫巴，加速電壓30kv。從一粒沙子到一個(gè)柴油發(fā)動(dòng)機(jī)大小的樣品，不必切小，僅用一臺(tái)儀器就可以做全面的檢查。其足夠大的空間還可進(jìn)行原位觀察，實(shí)現(xiàn)零部件疲勞、應(yīng)力/應(yīng)變、磨損等非破壞性試驗(yàn)研究。

LC-SEM 真空室和真空系統(tǒng)

LC-SEM試樣室有 3 m³、9 m³、12 m³三種型號(hào)，分析試樣可高達(dá)：直徑1500毫米、高度1500毫米。真空系統(tǒng)裝配有強(qiáng)大的三個(gè)泵：旋片和轉(zhuǎn)子泵應(yīng)用于低真空，渦輪增壓泵應(yīng)用于高真空，可實(shí)現(xiàn)10 ^-6mbar的高真空。該系統(tǒng)有足夠的能力，除去腔室中試樣的氣體，在45分鐘內(nèi)便可以實(shí)現(xiàn)所需的真空度。設(shè)置有多層墻體保證了不受任何外部磁場(chǎng)的影響。

的定位系統(tǒng)

當(dāng)一個(gè)人觀察一個(gè)小的對(duì)象時(shí)，會(huì)在手中扭轉(zhuǎn)對(duì)象，人眼-可視化系統(tǒng)是固定的。當(dāng)觀察一個(gè)更大的物體時(shí)，人會(huì)在物體周圍左右移動(dòng)，以便觀察它。種情況是類似于標(biāo)準(zhǔn)SEM的情況，而后者則反映了LC-SEM的情況。
LC -SEM 配備了定位系統(tǒng)，配備有一個(gè)5 +1旋轉(zhuǎn)軸系統(tǒng)，電子搶、相機(jī)和各種探測(cè)器都懸掛在旋轉(zhuǎn)軸上，最初是利用遠(yuǎn)程控制來調(diào)整軸的角度和高度，使柱體的置相對(duì)迅速接近樣品的重點(diǎn)區(qū)域，再通過計(jì)算機(jī)控制移動(dòng)電子槍和探測(cè)器以及完整的光學(xué)系統(tǒng)，可以滿足從不同角度的視角觀察。在研究過程中，還可以進(jìn)行修改以便優(yōu)化信號(hào)接收。并且還可以移動(dòng)試樣，這樣極大地減少了試樣裝載次數(shù)。

四個(gè)電腦顯示器通過探測(cè)器跟蹤柱和樣品的運(yùn)動(dòng)以及觀察試樣表面特性和分析化學(xué)信息，軟件、電氣和機(jī)械接口通過一個(gè)單一的終端控制。

成像和分析系統(tǒng)

通過裝備高級(jí)電子槍，LC-SEM有能力提供高于10nm的分辨率和高達(dá)30萬倍的圖像放大能力，加上強(qiáng)大的二次反射電鏡的通道倍增探測(cè)器，整個(gè)系統(tǒng)通過多個(gè)運(yùn)行系統(tǒng)保證圖像的質(zhì)量。阻尼系統(tǒng)可以防止外部振動(dòng)影響系統(tǒng)，同時(shí)電子槍和探測(cè)器有一個(gè)創(chuàng)新的冷卻循環(huán)系統(tǒng)。LC-SEM和它的所有部件都采用100％的計(jì)算機(jī)控制，其系統(tǒng)全部使用Microsoft Windows ®的軟件設(shè)計(jì)。

通過分析系統(tǒng)的集成，在腔室的真空環(huán)境下，通過背散射電子成像，能量發(fā)散X射線光譜儀（EDS）和電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD），LC-SEM擁有生成完整的測(cè)試結(jié)果的能力。LC-SEM也可以配置聚焦離子束（FIB）和傅立葉變換紅外光譜儀（FT-IR）實(shí)現(xiàn)其擴(kuò)展功能。LC-SEM的可變壓力方式還可以讓工程師和科學(xué)家做傳導(dǎo)和絕緣樣本的臨界面特性研究，包括金屬、陶瓷、水泥和金屬間化合物。

原位觀測(cè)、分析

除了研究大樣本，LC–SEM還可應(yīng)用于在材料的變形行為的原位觀測(cè)以及在微系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域生產(chǎn)過程的現(xiàn)場(chǎng)觀測(cè)控制中。LC–SEM也可以通過“中斷監(jiān)控”實(shí)現(xiàn)較大的工程部件的無損檢測(cè)實(shí)驗(yàn)。例如，測(cè)試高壓泵的高負(fù)荷部件的摩擦特性，可以通過進(jìn)行中斷監(jiān)控來研究。這些部件在正常工作一段時(shí)期后，可在LC-SEM中觀察研究，之后可以再立即工作，從而得到不同使用階段的摩擦特性。這種監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的方式將打開一個(gè)全新的、廣闊的工程應(yīng)用領(lǐng)域，使得我們能夠獲得更直接、更詳細(xì)的對(duì)磨合和破壞過程的了解。

LC-SEM腔室內(nèi)的疲勞試驗(yàn)

為了滿足評(píng)估原位變形特性研究的需要，將一個(gè)機(jī)械液壓疲勞試驗(yàn)機(jī)融入到了腔室中，可以在LC-SEM中執(zhí)行疲勞測(cè)試。

在這種聯(lián)合測(cè)試中，不僅能確定材料過載臨界點(diǎn)，而且裂紋的生成與擴(kuò)展也能被觀察和研究，晶體材料的特性能在執(zhí)行疲勞試驗(yàn)后進(jìn)行研究，由此顯微鏡轉(zhuǎn)換成了一個(gè)完整的測(cè)試設(shè)備，能提供完整的測(cè)試結(jié)果。該系統(tǒng)能使研究人員記錄材料裂紋聚集之前的結(jié)構(gòu)變化，同時(shí)能夠觀察微觀結(jié)構(gòu)對(duì)初期裂紋形成與擴(kuò)展的影響。該系統(tǒng)還設(shè)計(jì)有一個(gè)節(jié)點(diǎn)控制機(jī)制，允許感興趣的點(diǎn)始終留在視野當(dāng)中。本機(jī)的優(yōu)異的穩(wěn)定性，能夠極大地改善疲勞、開裂現(xiàn)象的原位研究。

應(yīng)用行業(yè)
l 汽車

l 航空、航天

l 軍事與國防

l 文化與考古

l 半導(dǎo)體和電子元件

l 醫(yī)藥與生物材料

l 法醫(yī)學(xué)

l 材料科學(xué)

應(yīng)用領(lǐng)域
l 無損檢測(cè)

l 原位分析

l 故障分析

l 高精密小型生產(chǎn)、裝配控制

l 科學(xué)研究與產(chǎn)品開發(fā)

LC-SEM用戶

德國不來梅大學(xué) Universit?t Bremen
德國漢諾威大學(xué) Umiversitat Hannover
德國亞琛工業(yè)大學(xué) RWTH Aachen University
德國埃爾蘭根—紐倫堡大學(xué) Friedrich-Alexanqder-Universit?t Erlangen-N?rnberg
德國多特蒙德工業(yè)大學(xué)  TU Dortmund
德國不倫瑞克工業(yè)大學(xué) Technische Universit?t  Braunschweig
日本宇宙航空研究開發(fā)機(jī)構(gòu)（JAXA）
美國NOVA無損檢測(cè)中心  設(shè)在美國西肯塔基大學(xué) Nondestructive Analysis (NOVA) Center
美國能源部國家核安全管理局的機(jī)構(gòu)   Y-12 National Security Complex
美國空軍裝備部延克空軍基地材料實(shí)驗(yàn)室   Tinker AFB Materials Laboratory

MIRA超大試樣室掃描電鏡（LC-SEM）技術(shù)規(guī)格參數(shù)

電子光學(xué)
分辨率	優(yōu)于10納米
放大	10x–300,000x
加速電壓	0.2–30keV
探測(cè)器	二次反射通道倍增電子探測(cè)器四象限背散射電子探測(cè)器
分析能力	能量色散X射線光譜儀（EDS）
分析能力	電子背散射衍射儀（EBSD）
附加功能	聚焦離子束（FIB）
	傅立葉變換紅外光譜儀（FT-IR）
	內(nèi)部攝像系統(tǒng)
圖像處理
軟件	MIRA控制系統(tǒng)
硬件	電腦，顯示器和打印機(jī)
真空系統(tǒng)
低真空泵	旋片泵，65立方米/ h
低真空泵	旋轉(zhuǎn)式轉(zhuǎn)子泵，400立方米/小時(shí)
高真空泵	渦輪泵2400升/秒
極限真空	直至45分鐘后10 ^-6毫巴
真空室	3 m³;9 m³; 12 m³

標(biāo)本
尺寸	高達(dá)直徑1500毫米，高度1500毫米
質(zhì)量	300 kg,
定位系統(tǒng)
軸	5 +1微步控制軸系統(tǒng)
重復(fù)精度	±50 μm
定位范圍
X-軸	600mm,1000mm,1500mm
Z-軸	600mm,1000mm,1500mm
A-軸	90°
B-軸	135°
C-軸	360°
D-軸	350°