ZEISS METROTOM 1的CT技術(shù)便捷，用戶僅需一次掃描即可有效完成復(fù)雜的測量與檢測任務(wù)，從而對接觸式和光學(xué)測量系統(tǒng)無法檢測到的隱蔽的缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行測量、分析及檢測。
ZEISS METROTOM 1 優(yōu)勢
1、看到很小的細(xì)節(jié)
得益于高解析度的6MP平板探測器
得益于高分辨率的6MP平板探測器 以高分辨率顯現(xiàn)甚至很小的細(xì)節(jié)。 直徑為150mm的物體可以以65 µm體素大 小進(jìn)行重建。
2、減少維護(hù)
封閉式微焦點X光管
封閉式微焦點X光管 在封閉的發(fā)射管內(nèi)，在制造過程中產(chǎn)生的真空會持續(xù)到X光管的整個使用壽命，因此不需要維護(hù)。
3、靈巧設(shè)計
小巧靈活
小巧靈活 總空間需求小于1.6平方米，因此可以非常靈活地放置。不必為系統(tǒng)后面，上方和右側(cè)的服務(wù)提供額外的空間。
4、檢測中小型零件
高度或直徑達(dá)165mm以內(nèi)的塑料組件皆可以輕松進(jìn)行掃描和測量。。
5、操作便捷
輕觸一個按鈕即可進(jìn)行掃描和分析
CT的簡化設(shè)置使得操作非常簡單，而操作員的影響卻很小。 這幾乎沒有差錯的余地，因此對操作人員的培訓(xùn)也很少。
6、由GOM Volume Inspect支持的強(qiáng)大解決方案
配備的GOM Volume Inspect軟件具備創(chuàng)新的3D體積渲染和所有剖面的3D可視化。借助GOM Volume Inspect，您可洞悉部件內(nèi)部，分析幾何形狀、孔隙或內(nèi)部結(jié)構(gòu)以及裝配情況。直觀操作、高性能：CT數(shù)據(jù)分析從未如此簡單！
ZEISS METROTOM 1 應(yīng)用
對于中小型塑料零件與小型輕金屬零件，可以實現(xiàn)缺陷檢驗、尺寸誤差彩圖比對與全尺寸量測。
METROTOM全系列
