執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
GB11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/2423.1－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)鏡試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫1：2007
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 IEC 60068-2-2:2007
GB/T2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 IEC60068-2-14
GJB150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：低溫試驗(yàn)