減少測(cè)試設(shè)置、執(zhí)行和分析時(shí)間

設(shè)置和運(yùn)行測(cè)試簡(jiǎn)單快速，無需編寫測(cè)試程序。 DAQ6510 數(shù)據(jù)采集和記錄萬用表系統(tǒng)的直觀觸摸屏能夠提供簡(jiǎn)單的配置，以及可視的直觀測(cè)試設(shè)置、實(shí)時(shí)的掃描狀態(tài)可視信息，可盡早捕捉問題以避免丟失測(cè)試時(shí)間，便于分析測(cè)試數(shù)據(jù)。

特點(diǎn)
配置：使用一個(gè)測(cè)量和掃描配置菜單設(shè)置具有多種測(cè)量功能的多通道掃描。
運(yùn)行和監(jiān)視：在測(cè)試過程中顯示掃描進(jìn)度，即時(shí)查看超出范圍的測(cè)量結(jié)果和超出的限制。
分析：使用繪圖和統(tǒng)計(jì)功能顯示和分析結(jié)果。 使用觸摸屏的手指開合縮放功能深入研究結(jié)果。 使用光標(biāo)計(jì)算關(guān)于數(shù)據(jù)段的統(tǒng)計(jì)信息。

執(zhí)行更廣泛的測(cè)量

DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 個(gè)內(nèi)置測(cè)量功能進(jìn)行測(cè)量。 執(zhí)行低電流、低電阻和溫度測(cè)量，并使用內(nèi)置數(shù)字化器查看瞬態(tài)信號(hào)。
特點(diǎn)

• 電壓：100 nV 至 1000 V，基本 DCV 精度為 0.0025%

• 電流：10 pA 至 3A

• 電阻：1μΩ 至 120MΩ

• 電容：0.1 pF 至 100 μF

• 使用熱電偶、電阻溫度檢測(cè)器和熱敏電阻進(jìn)行溫度測(cè)量（溫度范圍為 -200°C 至 1820°C）

• 1 M 采樣/秒、16 位數(shù)字化器和可容納 700 萬個(gè)讀數(shù)的存儲(chǔ)

• 通過 12 個(gè)插件開關(guān)模塊和高達(dá) 80 個(gè)通道的容量為測(cè)試系統(tǒng)提供更多選擇
  

流式傳輸和記錄數(shù)據(jù)以確?；谠频臄?shù)據(jù)可視化

現(xiàn)在，您可以流式傳輸來自 DAQ6510 的數(shù)據(jù)，并創(chuàng)建實(shí)時(shí)物聯(lián)網(wǎng)儀表板和可在任何地方訪問的數(shù)據(jù)可視化

特點(diǎn)

• 直接從任何地方實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和記錄來自 DAQ6510 的數(shù)據(jù)流，無需中間 PC。

• 使用基于測(cè)量閾值和其他數(shù)學(xué)規(guī)則的觸發(fā)器獲取電子郵件和文本警報(bào)。

• 從任何地方訪問、可視化、存檔、分享、轉(zhuǎn)換和分析當(dāng)前和歷史數(shù)據(jù) - 無需安裝。

• 創(chuàng)建儀表板以實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化、可重復(fù)性和可讀性。

• 疊加、時(shí)間膨脹和在不同的測(cè)試運(yùn)行中比較數(shù)據(jù)集

快速可靠地連接到您的 DUT

如果您開始通過其許多插件開關(guān)模塊的接線頭 D-sub 連接，DAQ6510 甚至可以在您開始測(cè)試前就提高您的工作效率。 這可以在系統(tǒng)維護(hù)期間或在您設(shè)置新測(cè)試系統(tǒng)時(shí)，限度減少更換插件開關(guān)模塊時(shí)產(chǎn)生的停機(jī)時(shí)間。

從一組完整的界面選項(xiàng)中進(jìn)行選擇

可將標(biāo)準(zhǔn) LAN、LXI 和 USB 接口輕松集成到您的測(cè)試系統(tǒng)中。 （可選）可在現(xiàn)場(chǎng)安裝的 GPIB 和 RS-232 接口包括 6 個(gè)數(shù)字 I/O 端口，可實(shí)現(xiàn)直接儀器間同步和通信。 DAQ6510 可以輕松與您選擇的任何 PC 接口配合使用。