主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)
- 直觀的、點(diǎn)擊式Windows®操作環(huán)境
- 的遠(yuǎn)端前置放大器，將SMU的分辨率擴(kuò)展至0.1fA
- 新的脈沖和脈沖I-V能力用于半導(dǎo)體測(cè)試
- 新的示波器卡提供集成的示波器和脈沖測(cè)量功能
- 內(nèi)置PC提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測(cè)試結(jié)果的大容量存儲(chǔ)
- 的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面，根據(jù)器件的類型來(lái)安排測(cè)試，可以執(zhí)行多項(xiàng)測(cè)試并提供測(cè)試序列與循環(huán)控制功能
- 內(nèi)置stress/measure、looping和數(shù)據(jù)分析用于點(diǎn)擊式可靠性測(cè)試，包括五個(gè)符合JEDEC的范例測(cè)試
- 支持多種LCR表、吉時(shí)利開關(guān)矩陣配置與吉時(shí)利3400系列和安捷倫81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備
- 包括驅(qū)動(dòng)軟件，支持Cascade Microtech Summit12K 系列、Karl Suss PA-200和PA-300、micromanipulator 的8860 自動(dòng)和手動(dòng)探針臺(tái)
- 半導(dǎo)體支持包括吉時(shí)利提供的IC-CAP器件建模包驅(qū)動(dòng)程序并支持Cadence BSIM ProPlus/Virtuoso 和Silvaco UTMOST器件建模工具
容易使用的4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)的器件直流參數(shù)測(cè)試、實(shí)時(shí)繪圖與分析，具有高精度和亞f的分辨率。它提供了的系統(tǒng)集成能力，包括完整的嵌入式PC機(jī)，Windows NT操作系統(tǒng)與大容量存儲(chǔ)器。其自動(dòng)記錄、點(diǎn)擊式接口加速并簡(jiǎn)化了獲取數(shù)據(jù)的過(guò)程，這樣用戶可以更快地開始分析測(cè)試結(jié)果。更多特性使stress-measure能力適合廣泛的可靠性測(cè)試。
相關(guān)應(yīng)用
- 半導(dǎo)體器件
- 片上參數(shù)測(cè)試
- 晶圓級(jí)可靠性
- 封裝器件特性分析
- C-V/I-V 特性分析，需選件4200-590高頻C-V分析器
- 高K柵電荷俘獲
- 受自加熱效應(yīng)影響的器件和材料的等溫測(cè)試
- Charge pumping用于MOSFET器件的界面態(tài)密度分析
- 電阻性的或電容性的MEM驅(qū)動(dòng)器特性分析
- 光電子器件
儀器的選型：
4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)，集成前沿的脈沖能力和亞飛安級(jí)緊密DC測(cè)量，實(shí)現(xiàn)I-V/C-V和脈沖I-V分析能力。
