型號(hào) JW-DX JW-DA
測(cè)試原理 低溫氮吸附，流動(dòng)色譜法
方法特色 發(fā)明技術(shù)。
采用吸附峰，與靜態(tài)容量法相同，四個(gè)樣品獨(dú)立測(cè)試，無(wú)干擾，信號(hào)峰尖銳，＜10m2/g小比表面樣品測(cè)試精度明顯提高 傳統(tǒng)脫附技術(shù)。
采用脫附峰，四個(gè)樣品并聯(lián)不獨(dú)立，信號(hào)峰被沖淡，不適合＜10m2/g小比表面樣品的精確測(cè)試
測(cè)試功能 對(duì)比法比表面積測(cè)試；
單點(diǎn)、多點(diǎn)BET比表面積測(cè)試 對(duì)比法比表面積測(cè)試；
單點(diǎn)、多點(diǎn)BET比表面積測(cè)試
測(cè)試氣體 高純氮?dú)猓?9.999%）+高純氦氣（99.999%）
氮分壓P/P0范圍 0.05-0.35 （多點(diǎn)BET）
測(cè)試范圍 比表面積0.01m2/g至無(wú)已知上限，不適用于微孔材料檢測(cè) 比表面積0.01m2/g至無(wú)已知上限，不適用于微孔材料檢測(cè)
重復(fù)精度 炭黑標(biāo)準(zhǔn)樣品≤± 1.0%；
與靜態(tài)容量法測(cè)試精度高度一致 炭黑標(biāo)準(zhǔn)樣品≤± 1.5%；
分析站 4 個(gè)
測(cè)試效率 對(duì)比法測(cè)試每個(gè)樣品約需5min；
多點(diǎn)BET測(cè)試每個(gè)樣品約需25min； 對(duì)比法測(cè)試每個(gè)樣品約需9min；
多點(diǎn)BET測(cè)試每個(gè)樣品約需30min；
主機(jī)規(guī)格 長(zhǎng)610mm×寬460mm×高680mm，重量約48Kg；
環(huán)境溫度要求 室溫，建議配備空調(diào)
環(huán)境濕度要求 10%-90%
電源要求 交流220V±20V，50/60HZ，功率300W，電流5A ；
推薦應(yīng)用領(lǐng)域 石墨、三元材料、磷酸鐵鋰、錳酸鋰、鈷酸鋰等等電池正負(fù)極材料；
醫(yī)藥輔料；
金屬粉末；
金屬氧化物粉末；
稀土發(fā)光材料；
納米碳酸鈣；
等等 磷酸鐵鋰正極材料；
鈦白粉；
納米碳酸鈣等無(wú)機(jī)非金屬材料；
等等
脫氣站 標(biāo)配同位3站，可同時(shí)進(jìn)行三個(gè)樣品的真空加熱脫氣；
另可選配外置式4站真空加熱脫氣機(jī)；
