試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多為了提高試驗效率、減少試驗時間

試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多為了提高試驗效率、減少試驗時間。
評估固態(tài)組件之密封性，加速產(chǎn)品老化，縮短測試周期。

試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多為了提高試驗效率、減少試驗時間。
評估固態(tài)組件之密封性，加速產(chǎn)品老化，縮短測試周期。

高加速老化試驗機
設備內尺寸: 255*255*318mm
壓力范圍: 0.02~0.392MPa
溫度范圍：(105.0~162.2)℃
濕度范圍：(75~100)%RH

參考標準：
IEC 60068-2-66:1994
Environmental testing-part2 :test methods-test Cx: damp heat，steady state(unsaturated pressurized vapour)
GB/T2423.40-1997
電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱