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- 公司名稱(chēng) 北京依維特技術(shù)服務(wù)有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/8/9 14:08:44
- 訪問(wèn)次數(shù) 39
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設(shè)備介紹激光共聚焦顯微鏡脫離了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的場(chǎng)光源和局部平面成像模式,采用激光束作光源,激光束經(jīng)照明針孔,經(jīng)由分光鏡反射至物鏡,并聚焦于樣品上,對(duì)標(biāo)本焦平面上每一點(diǎn)進(jìn)行掃描
激光共聚焦顯微鏡脫離了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的場(chǎng)光源和局部平面成像模式, 采用激光束作光源,激光束經(jīng)照明針孔,經(jīng)由分光鏡反射至物鏡,并聚焦于樣品上,對(duì)標(biāo)本焦平面上每一點(diǎn)進(jìn)行掃描。組織樣品中如果有可被激發(fā)的熒光物質(zhì),受到激發(fā)后發(fā)出的熒光經(jīng)原來(lái)入射光路直接反向回到分光鏡,通過(guò)探測(cè)針孔時(shí)先聚焦,聚焦后的光被光電倍增管(PMT)探測(cè)收集,并將信號(hào)輸送到計(jì)算機(jī),處理后在計(jì)算機(jī)顯示器上顯示圖像。在這個(gè)光路中,只有在焦平面的光才能穿過(guò)探測(cè)針孔,焦平面以外區(qū)域射來(lái)的光線在探測(cè)小孔平面是離焦的,不能通過(guò)小孔。因此,非觀察點(diǎn)的背景呈黑色,反差增加,成像清晰。由于照明針孔與探測(cè)針孔相對(duì)于物鏡焦平面是共軛的,焦平面上的點(diǎn)同時(shí)聚焦于照明針孔與探測(cè)針孔,焦平面以外的點(diǎn)不會(huì)在探測(cè)針孔處成像,即共聚焦。
奧林巴斯FV3000
激光共聚焦掃描顯微鏡,共聚焦圖包括綜合幾何,功能性和粗糙度研究——以及創(chuàng)建詳細(xì)的表面分析報(bào)告。用于的表面紋理分析,輪廓分析,顆粒與粒子分析,3D傅立葉分析,表面進(jìn)化分析和統(tǒng)計(jì)。
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