描述
英國泰勒粗糙度儀Surtronic Duo分離式 表面光潔度檢測(cè)儀
泰勒SURTRONIC DUO粗糙度儀
型號(hào)：SURTRONIC DUO
探頭系統(tǒng)：探頭系統(tǒng)
表面粗糙度測(cè)量范圍：199μm，40μm
掃描路徑：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
閾值波長：0.8 mm
數(shù)據(jù)傳輸類型：USB
技術(shù)指標(biāo)：
| 量 程： | 200um | |
| 行 程： | 5mm | |
| 取樣長度： | 0.8mm+/-15% | |
| 參 數(shù)： | Ra：0.1um-40um | |
| Ra：0.1um-199um | ||
| 精 度： | Ra:0.1um | |
| Rz:0.1um | ||
| 檢測(cè)方式： | 壓電式 | |
| 尺 寸： | 125*80*38mm | |
| 重 量： | 200g |
應(yīng)用：
用戶友好的移動(dòng)粗糙度測(cè)量裝置，用于參數(shù)Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度測(cè)量。
執(zhí)行：
3.7“彩色液晶顯示屏，zui多顯示4個(gè)測(cè)量值
拆分顯示和進(jìn)紙單元
兩臺(tái)機(jī)器之間的藍(lán)牙連接（zui大距離2米）
粗糙度參數(shù)符合DIN ISO和ASME標(biāo)準(zhǔn)
顯示主要輪廓/參數(shù)Pa，Pz，Pp，Pv和Pt
集成滑蓋式探頭，金剛石為5μm
可以通過迷你USB端口充電
優(yōu)點(diǎn)：
InstantOn，從待機(jī)模式到測(cè)量模式只需5秒鐘
操作簡(jiǎn)單直觀，無需培訓(xùn)
測(cè)量值保存到下次測(cè)量為止
電池壽命每次充電可達(dá)3000次測(cè)量
