型號

SURFTENS universal

（通用型）

SURFTENS HL

（專業(yè)晶圓檢測）

SURFTENS Automatic

（工業(yè)型）

SURFTENS WH30

（工業(yè)型）

手動/自動

手動

手動

自動

自動

測量臺

標準支承面100mm× 100mm（可拓展），高度可調（50mm）

適用于200mm或300mm晶圓的可選，樣品最厚5mm

標準測量區(qū)域200× 200mm。適用大平面（如液晶玻璃基板，8-12 英寸英寸的晶圓等）樣品厚度5mm，可全自動高精度定位

3軸晶圓裝載機械臂，適用于直徑200mm和300mm晶圓；200mm晶圓裝載系統(tǒng)或300mm前開式晶圓送盒；激光晶圓掃描器；真空吸盤系統(tǒng)；開槽系統(tǒng)

滴液系統(tǒng)

手動滴液，高度可調，可升級雙注射器、自動滴液系統(tǒng)，添加電極驅

動和軟件控制功能，用戶可自定義滴液量

自動滴液（電機驅動），軟件控制單次劑量

與Automatic類似，全自動馬達，可通過編程控制液體精準定位在晶圓上的滴點位置與滴液過程

光學系統(tǒng)

顯微物鏡0.8x（可升級1.6x/3.2x），光學傾角可調（0-6°）

1倍固定放大倍率，電機驅動對焦，光學儀器傾角1°

固定放大倍率，電機驅動對焦，光學儀器傾角1°。高分辨率CCD相機，440,000像素

附帶光學系統(tǒng)，高分辨率CCD相機，440,000像素

圖像采集系統(tǒng)

USB2.0相機（黑/白，130萬像素，可升級500萬像素和模擬攝像機）

高分辨率CCD相機，440,000像素

光照單元

長壽命高能LED燈，亮度可調

長壽命平板燈，亮度可調

長壽命平板燈，亮度可調

長壽命平板燈，亮度可調

擴展組件

傾斜裝置（手動，傾斜角90°，分辨率1°）；接觸角測量基板（一種通過使用光刻工藝顯示接觸角照片，用于核查測量儀器精度玻璃基板）；恒溫箱（軟件控制，可以在高達80°進行接觸角測量）。

傾斜裝置、接觸角測量基板、恒溫箱等

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電熱板（清除表面遺留滴液）；風機FFU（空氣過濾）

控制軟件

主要根據(jù)滴液法，可通過不同水滴形狀的擬合方法全自動測量水滴的 接觸角，可手動設置基準，手動測量接觸角，從兩種已知測量液體計 算測量接觸角固體的表面自由能。

軟件內含評估模塊（Wu氏理論），通過兩種已知的測量液體來計算固體的表面自由能。軟件可通過掃描接口獲得所有圖像，可自動計算的縮放比例。圖片文件可以BMP格式、JPEG格式等復制、讀取、儲存和打印。實時顯示接觸角的圖像（可選）；測量前進和后退接觸角（可選）全自動檢測隨時間變化的接觸角，時間間隔自由設定，最小50ms，在圖表顯示（可選）；同時測量左右接觸角，并計算中值（可選）

內含評估模塊（Wu氏/OWRK理論），且測量系統(tǒng)提供液體數(shù)據(jù)庫，可供不同液體間測量比對，通過測量兩種不同液體的接觸角，計算被測晶硅的表面自由能。配高性能視頻數(shù)字化板（圖像采集卡），測量數(shù)據(jù)存儲搭建網絡服務器進行數(shù)據(jù)傳輸、備份和存儲。軟件能自動識別裝載端口、插槽分配情況，可區(qū)分不同尺寸的硅晶圓片并自動分配，在測量前自動開槽。

提供3種用戶級別選擇，可定制

軟件功能拓展

軟件內含評估模塊（Wu氏/OWRK理論），能夠提供固體表面和5種以下液體的接觸角測量，并進行表面自由能計算；軟件還能實時視頻錄像，以AVI格式保存；最后檢測的結果也可以保存為一個記錄文檔或者視頻圖像。

軟件功能拓展實時視頻圖像顯示當前接觸角；設定檢測時間間隔，并測量與時間相關的接觸角情況，顯示在圖表上（時間間隔自由設定，最小50ms）；在實時圖像上測量前進和后退接觸角；同時測量左右兩邊的接觸角，并計算中值；測量滴液期間和滴液后液體體積。

控制器：3軸步進電機控制器，可進行微小步距操作，控制樣品在X/Y軸方向定位，控制滴液針頭在Z軸方向定位

控制器：3軸步進馬達驅動晶圓承載平臺，定位精度±0.05mm

接觸角測量范圍

1°-180°

1°-180°

1°-180°

1°-180°

測量分辨率

0.05°

0.05°

0.05°

0.05°

測量重復性

±0.1°

±0.1°

±0.1°

±0.1°

測量精度

±0.5°

±0.5°

±0.5°

±0.5°

液滴體積再現(xiàn)性

0.1μL（根據(jù)實時視頻圖像得出）

0.1μL（根據(jù)實時視頻圖像得出）

0.1μL

0.1μL

應用

在特殊表面處理技術中，通過工藝特性、工藝參數(shù)的調整和生產控制使表面潤濕能力改變前后，客觀準確地測量表面自由能。

SURFTENS universal是一套堅固耐用、實用性強的接觸角測量儀器，特別適應工業(yè)領域和科學研究的需求。而且該儀器操作簡單，經過短期的培訓，任何人都能輕松使用。

SURFTENS HL是專為半導體工業(yè)及科學研究而開發(fā)的接觸角測量儀器，特別適用于晶圓鍍膜和光刻過程檢控。針對半導體行業(yè)設計，客觀地測量晶圓表面處理前后的自由能，檢查硅晶圓的潤濕能力，在生產過程中控制技術參數(shù)、保證生產質量或開發(fā)新的鍍膜技術，由于系統(tǒng)的穩(wěn)定性高，特別適合作為標準儀器，用于技術控制。

針對半導體工業(yè)設計，特別是用于控制晶圓的涂層和光刻工藝。檢查硅晶圓表面潤濕能力，客觀檢測晶圓表面處理后的表面自由能，生產中控制技術參數(shù)、保證生產質量或開發(fā)新的鍍膜技術。適用于無塵室要求。

應用于半導體工業(yè)的，專業(yè)全自動表面張力檢測分析；實現(xiàn)自動裝載與測量結合（FOUP→裝載→滴液→測量→移液→FOUP），可應用于無塵室中，潔凈等級：100。