SPECTRO XEPOS 偏振X射線熒光光譜儀

SPECTRO XEPOS 臺式偏振X射線熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司推出的新一代儀器。擴展的偏振光學系統(tǒng)使用50W低能量的X射線管作為輻射源，用于Na-U元素的同時分析。從X射線管中發(fā)出的原始X射線通過高通量偏振光學系統(tǒng)進行轉換，得到的偏振且部分單色的X射線可以高靈敏地測定各種元素。這種分析技術在許多應用中不需要高吸收輻射的濾光片。

SPECTRO XEPOS可廣泛地應用于石油、化工、冶金、礦業(yè)、制藥、食品、環(huán)保、地質、建材、廢物處理以及再加工工業(yè)等。以油中各種元素的分析為例。使用SPECTO XEPOS，在氦氣保護狀態(tài)下，在300秒鐘之內，對于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的檢測下限在1-7μg/g以上。

XEPOS型X射線熒光光譜儀還可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，可應對ELV、WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083標準等。

產品特點

SPECTRO XEPOS采用端窗鈀靶50W射線管?？裳b8個偏振靶和次級靶， 可設定各種不同的激發(fā)條件，以確保對從Na到U的元素進行準確測定。

光閘系統(tǒng)可以確保在更換樣品時無需關閉光管，從而提高了系統(tǒng)的穩(wěn)定性。

SPECTRO XEPOS采用的硅漂移檢測器（SDD）。無論計數率如何變化，分辨率均保持一致。特別設計的準直器可改善信噪比。光譜分辨率小于160eV（以Mn ka線計）。計數率可達到120,000cps。在高計數率下仍有較高的分辨率，可縮短分析時間、提高分析準確度。

SPECTRO XEPOS的分析性能不僅取決于它采用了功能強大的分析部件及的偏振技術，而且還取決于其進樣設計。德國斯派克分析儀器公司在開發(fā) SPECTRO XEPOS時就專門考慮到進樣的問題。高精度樣品交換器、新型樣品盤的采用可大大減少機械和物力波動對測定的影響，改善分析結果。儀器配備樣品旋轉裝置，可進一步改善測定不均勻樣品以及表面不平整樣品的分析結果。

SPECTRO XEPOS軟件提供了一個簡單明了、使用簡便的操作界面。選定方法，輸入樣品識別信息，即可進行測定。通過完備的引導程序，操作者只需通過5個簡單步驟即可創(chuàng)建新的分析方法。采用基本參數法PF或采用專門的SPECTRO TurboQuant軟件，可輕而易舉的完成未知樣品的分析。SPECTRO XEPOS可搭載預制的應用軟件包。該應用軟件包括一套在出廠前就安裝和校正好的硬件和分析方法。適用于分析ROHS，廢渣，垃圾，油，水泥，爐渣等，SPECTRO XEPOS一機多用，是實至名歸的多功能分析儀器。