產(chǎn)品介紹：

操作簡(jiǎn)單且直觀

*:和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例

*:探測(cè)器內(nèi)置型

(制造商: 德國(guó)Bruker nano GmbH)

產(chǎn)品特點(diǎn)：

通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布

移動(dòng)到位置，可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖

雙屏顯示

僅需選擇圖像和模板，即可在生成Word?、Excel?、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。

超高的性能（hyper map）成就了一次測(cè)試即可獲取點(diǎn)分析、線分析、面分布結(jié)果

點(diǎn)分析

可根據(jù)點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖，輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。

實(shí)時(shí)在線譜峰剝離面分布

分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結(jié)果。

產(chǎn)品規(guī)格：