從380nm~1050nm的可視光至近紅外實(shí)現(xiàn)大范圍波長(zhǎng)區(qū)域中的分光測(cè)定
奧林巴斯的近紅外顯微分光測(cè)定儀USPM-RU-W可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長(zhǎng)的分光測(cè)定。由于其可以很容易地測(cè)定通常的分光光度計(jì)所不能測(cè)定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率，因此十分適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。
實(shí)的測(cè)定功能
使用一臺(tái)即可進(jìn)行反射率、膜厚、物體顏色、透過(guò)率、入射角45度反射率的各種分光測(cè)定。
測(cè)定反射率
測(cè)定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點(diǎn)的反射率。
測(cè)定膜厚
活用反射率數(shù)據(jù)，測(cè)定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。
測(cè)定物體顏色
根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關(guān)數(shù)值。
測(cè)定透過(guò)率 (選配)
從受臺(tái)下部透過(guò)?2mm的平行光，測(cè)定平面樣品的透過(guò)率。
測(cè)定入射角為45度的反射率（選配）
從側(cè)面向45度面反射?2mm的平行光，測(cè)定其反射率。
域的高精度&高速測(cè)定
實(shí)現(xiàn)高速測(cè)定
使用平面光柵及線傳感器進(jìn)行全波長(zhǎng)同時(shí)分光測(cè)定，從而實(shí)現(xiàn)高速測(cè)定。
十分適用于測(cè)定細(xì)小部件、鏡片的反射率
新設(shè)計(jì)了可以在?17~70μm的測(cè)定區(qū)域中進(jìn)行非接觸測(cè)定的專用物鏡。通常的分光光度計(jì)不能進(jìn)行測(cè)定的細(xì)小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測(cè)定。
測(cè)定反射率時(shí)，不需要背面防反射處理
將專用物鏡與環(huán)形照明組合，不需要進(jìn)行被檢測(cè)物背面的防反射處理，就可測(cè)定0.2mm的反射率*。*使用40×物鏡時(shí)，在本公司的測(cè)定條件下進(jìn)行測(cè)定。
可選擇的膜厚測(cè)定方法
根據(jù)測(cè)定的分光反射率數(shù)據(jù)進(jìn)行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根據(jù)用途選擇z佳的測(cè)定方法。
峰谷法
這是一種根據(jù)測(cè)定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計(jì)算出膜厚的方法，對(duì)于測(cè)定單層膜是有效的。不需要復(fù)雜的設(shè)置，可以簡(jiǎn)單地求出。
傅里葉轉(zhuǎn)換法
這是一種根據(jù)測(cè)定的分光反射率值的周期性計(jì)算膜厚的方法，對(duì)于單層膜及多層膜的測(cè)定有效。難以檢測(cè)出峰值及低谷等時(shí)，可以幾乎不受噪音的影響進(jìn)行解析。
曲線調(diào)整法
這是一種通過(guò)推算測(cè)定的分光反射率值與根據(jù)某種膜構(gòu)造計(jì)算的反射率的差達(dá)到最小的構(gòu)造計(jì)算出膜厚的方法，對(duì)于單層膜及多層膜的測(cè)定有效。還可以進(jìn)行不會(huì)出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。
多樣化應(yīng)用
高速、高精度地應(yīng)對(duì)多樣化測(cè)定需求。
通過(guò)測(cè)定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學(xué)元件的反射率，進(jìn)行涂層評(píng)價(jià)、物體顏色測(cè)定、膜厚測(cè)定。
數(shù)碼相機(jī)鏡片
投影儀鏡片
光讀取頭鏡片
眼鏡片
適用于LED反射鏡、半導(dǎo)體基板等微小電子部件的反射率測(cè)定、膜厚測(cè)定。
LED包裝
半導(dǎo)體基板
適用于平面光學(xué)元件、彩色濾鏡、光學(xué)薄膜等的反射率測(cè)定、膜厚測(cè)定、透過(guò)率測(cè)定。
液晶彩色濾鏡
光學(xué)薄膜
適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測(cè)定。
棱鏡
反射鏡
