產(chǎn)品簡(jiǎn)介：高純鍺探測(cè)器是近年來(lái)發(fā)展極為迅速的一種探測(cè)器類(lèi)型

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

       高純鍺探測(cè)器是近年來(lái)發(fā)展極為迅速的一種探測(cè)器類(lèi)型。基本原理是將輻射能量通過(guò)高純鍺晶體進(jìn)行吸收，當(dāng)射線與高純鍺晶體發(fā)生相互作用時(shí)將產(chǎn)生電子——空穴對(duì)。由于電子——空穴對(duì)的能量較低，所以該種探測(cè)器具有能量分辨率高且線性范圍寬等優(yōu)點(diǎn)。

高純鍺探測(cè)器：

“優(yōu)化P型”高純鍺探測(cè)器：GEM-S/GEM-C/GEM-SP

• 提供三個(gè)具有較強(qiáng)針對(duì)性的優(yōu)化型探測(cè)器；
• 性能指標(biāo)上綜合了傳統(tǒng)GEM與GMX探測(cè)器的優(yōu)勢(shì)；能量下限將至3keV；分辨率優(yōu)異；中低能段效率顯著提升；
• 采用超薄可靠接觸極；在常溫下保存不會(huì)破壞探測(cè)器性能；
• 嚴(yán)格保證效率、分辨率、峰形與峰康比等指標(biāo)，保證探測(cè)器晶體生長(zhǎng)質(zhì)量；
• 以晶體尺寸定義其型號(hào)，同一型號(hào)的探測(cè)器采用相同的晶體結(jié)構(gòu)和尺寸，從而保證了相當(dāng)一致的效率曲線。

ORTEC數(shù)字化譜儀的基本特征：

• 一切控制與參數(shù)設(shè)置由計(jì)算機(jī)進(jìn)行；
• 數(shù)據(jù)通過(guò)率：大于100kcps（DSPEC-Pro大于130kcps）；
• 數(shù)字化穩(wěn)譜、數(shù)字化自動(dòng)極零、自動(dòng)優(yōu)化、內(nèi)置虛擬示波器和數(shù)字化門(mén)控基線恢復(fù)等功能；
• 用戶可結(jié)合軟件預(yù)置多個(gè)核素的MDA，在所以MDA滿足時(shí)自動(dòng)終止計(jì)數(shù)；統(tǒng)一的即插即用式背面板接口，與DIM / Smart-1匹配，相互間具有良好的互換性與兼容性；