TDM-10小型X射線衍射儀TDM-10型X射線小型衍射儀，主要用于對(duì)粉末、固體和類似糊狀材料進(jìn)行物相分析，該設(shè)備體積小，重量輕，耗電少，能快速對(duì)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)和測(cè)試，衍射峰位置的測(cè)量精度0.001，用于計(jì)算機(jī)控制、在Windows窗口下可直接看到數(shù)據(jù)的采集和及時(shí)處理

TDM-10 小型X射線衍射儀

 

TDM-10型X射線小型衍射儀，主要用于對(duì)粉末、固體和類似糊狀材料進(jìn)行物相分析，該設(shè)備體積小，重量輕，耗電少，能快速對(duì)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)和測(cè)試，衍射峰位置的測(cè)量精度0.001°，用于計(jì)算機(jī)控制、在Windows窗口下可直接看到數(shù)據(jù)的采集和及時(shí)處理。
 

 

 

 

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X射線衍射儀用途和原理
 

TD系列X射線衍射儀主要用于粉末、固體、類似糊狀材料或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析、晶體的取向性分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力的測(cè)定、晶粒大小測(cè)定、結(jié)晶度測(cè)定等。依據(jù)德拜-謝樂幾何原理，可獲得高精度測(cè)試結(jié)果，廣泛應(yīng)用于從事地質(zhì)、海洋、生物、化學(xué)、核反應(yīng)站的實(shí)驗(yàn)室，同時(shí)也應(yīng)用于工業(yè)控制實(shí)驗(yàn)室和高等院校的教育實(shí)驗(yàn)室等。























粉末衍射法的基本原理是

     一束單色的X射線入射到取向任意的、數(shù)目很大的小晶體上，小晶體的尺寸大約為1~10µm。為減少擇優(yōu)取向，通常多晶樣品是轉(zhuǎn)動(dòng)的。假設(shè)晶體中有一點(diǎn)陣平面（hkl）滿足布拉格反射條件，入射線與（hkl）點(diǎn)陣平面構(gòu)成θ角，其反射線與入射線的夾角則為2θ.由于小晶體的取向是任意的，每一組（hkl）平面的衍射線都形成相應(yīng)以入射線為軸，頂角為4θ的圓錐面。凡是晶面間距大于λ/2（即sinθ<1的情況）、滿足布拉格反射條件的點(diǎn)陣平面組都可以獲得相應(yīng)的衍射線錐面。所有的粉末X射線衍射的實(shí)驗(yàn)方法都包括有X射線源和用于正確地記錄滿足布拉格定律的晶體衍射線的實(shí)驗(yàn)裝置。

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